Control Charts for Monitoring Profiles with Within‐Profile Correlation based on Tweedie Distribution

製程或產品的品質可藉由反應變數與一個或多個解釋變數的函數關係稱之為輪廓，有別於傳統統計品質管制針對品質特性的參數進行監控，輪廓監控則是用於偵測輪廓關係是否隨時間改變。過去輪廓監控的研究中通常假設輪廓內觀察值彼此獨立且服從常態分配，然而在某些應用中此兩個假設可能無法滿足，即輪廓資料的測量值可能具有相關且不服從常態分配。本研究將考慮Tweedie分配，分別在隨機過程模型及隨機效果模型的架構下，描述輪廓內相關資料並藉此建立兩個管制圖在階段II監控製程。其監控表現將以數值模擬方式呈現。此外，也會將此方法應用於實際例子給使用者做為參考。