具不對稱粒子形狀之定域化表面電漿共振檢測系統

Chun-Hung Lin (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

本發明係有關於一種具不對稱粒子形狀之定域化表面電漿共振檢測系統,係藉由不對稱形狀之金屬奈米粒子產生定域化表面電漿共振之相位訊號,且定域化表面電漿共振檢測系統之檢測結果為相位訊號之頻譜移動量;藉此,由於在定域化表面電漿共振波長附近的出射光相位變化劇烈,且因為金屬奈米粒子的不對稱性,使得兩垂直偏振方向的共振波長分離,導致兩偏振出射光之間產生相位差,使得本系統所測得的相位頻譜有一頻寬極窄的訊號,而其頻譜半高寬遠比量測穿透率或反射率得到的半高寬來得窄,造成品質因素大幅提高,達到提高折射率感測器性能之功效。
Original languageChinese
Patent numberI498540
Publication statusPublished - 1800

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