微電子廠房結構震動特性之分西試驗與減振評估

Translated title of the contribution: 微電子廠房結構震動特性之分西試驗與減振評估

George C. Yao, 林義祥

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceedingConference contribution

Original languageChinese
Title of host publication第二十屆中日工程技術研討會公共工程組
Place of Publication台南市成功大學
Publication statusPublished - 1999

All Science Journal Classification (ASJC) codes

  • Architecture

Cite this

Yao, G. C., & 林義祥 (1999). 微電子廠房結構震動特性之分西試驗與減振評估. In 第二十屆中日工程技術研討會公共工程組 台南市成功大學.
Yao, George C. ; 林義祥. / 微電子廠房結構震動特性之分西試驗與減振評估. 第二十屆中日工程技術研討會公共工程組. 台南市成功大學, 1999.
@inproceedings{66b151e8bd30476e9a06e32efe3f7aea,
title = "微電子廠房結構震動特性之分西試驗與減振評估",
author = "Yao, {George C.} and 林義祥",
year = "1999",
language = "Chinese",
booktitle = "第二十屆中日工程技術研討會公共工程組",

}

Yao, GC & 林義祥 1999, 微電子廠房結構震動特性之分西試驗與減振評估. in 第二十屆中日工程技術研討會公共工程組. 台南市成功大學.

微電子廠房結構震動特性之分西試驗與減振評估. / Yao, George C.; 林義祥.

第二十屆中日工程技術研討會公共工程組. 台南市成功大學, 1999.

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceedingConference contribution

TY - GEN

T1 - 微電子廠房結構震動特性之分西試驗與減振評估

AU - Yao, George C.

AU - 林義祥,

PY - 1999

Y1 - 1999

M3 - Conference contribution

BT - 第二十屆中日工程技術研討會公共工程組

CY - 台南市成功大學

ER -

Yao GC, 林義祥. 微電子廠房結構震動特性之分西試驗與減振評估. In 第二十屆中日工程技術研討會公共工程組. 台南市成功大學. 1999