標的裝置的基底預測保養方法與其電腦程式產品

Fan-Tien Cheng (Inventor), Chrong-Reen Wang (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

一種標的裝置(TD)的基底預測保養方法與其電腦程式產品。首先,收集此標的裝置剛進行維修保養後所產生之複數個新鮮樣本。接著,收集標的裝置生產新工件所產生之一新工件樣本。使用建模樣本並根據一推估演算法來建立一TD基底模型,其中建模樣本包含有上述之複數個新鮮樣本和剛收集的新工件樣本。然後,由TD基底模型來計算出新工件之TD健康基底值(?B),並計算出裝置健康指數(DHI)、基底誤差指數(BEI)、及基底個體相似度指標(ISIB),藉以達到錯誤偵測及診斷(FDC)和預測保養(PdM)的目標。
Original languageChinese
Patent numberZL 2013 1 0181746.2
Publication statusPublished - 2014 Feb 12

Cite this

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author = "Fan-Tien Cheng and Chrong-Reen Wang",
year = "2014",
month = "2",
day = "12",
language = "Chinese",
type = "Patent",
note = "ZL 2013 1 0181746.2",

}

TY - PAT

T1 - 標的裝置的基底預測保養方法與其電腦程式產品

AU - Cheng, Fan-Tien

AU - Wang, Chrong-Reen

PY - 2014/2/12

Y1 - 2014/2/12

N2 - 一種標的裝置(TD)的基底預測保養方法與其電腦程式產品。首先,收集此標的裝置剛進行維修保養後所產生之複數個新鮮樣本。接著,收集標的裝置生產新工件所產生之一新工件樣本。使用建模樣本並根據一推估演算法來建立一TD基底模型,其中建模樣本包含有上述之複數個新鮮樣本和剛收集的新工件樣本。然後,由TD基底模型來計算出新工件之TD健康基底值(?B),並計算出裝置健康指數(DHI)、基底誤差指數(BEI)、及基底個體相似度指標(ISIB),藉以達到錯誤偵測及診斷(FDC)和預測保養(PdM)的目標。

AB - 一種標的裝置(TD)的基底預測保養方法與其電腦程式產品。首先,收集此標的裝置剛進行維修保養後所產生之複數個新鮮樣本。接著,收集標的裝置生產新工件所產生之一新工件樣本。使用建模樣本並根據一推估演算法來建立一TD基底模型,其中建模樣本包含有上述之複數個新鮮樣本和剛收集的新工件樣本。然後,由TD基底模型來計算出新工件之TD健康基底值(?B),並計算出裝置健康指數(DHI)、基底誤差指數(BEI)、及基底個體相似度指標(ISIB),藉以達到錯誤偵測及診斷(FDC)和預測保養(PdM)的目標。

M3 - Patent

M1 - ZL 2013 1 0181746.2

ER -