模型評量與選擇的系統與方法

Meng-Feng Yen (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

本發明提供了一種以電腦實現的方法和系統來使用逐步的方式去識別相對於一個標竿模型之優越模型,同時此方法和系統減小資料窺視偏差並增加檢定效能。通過以逐步的方式控制諸如總體錯誤率(Family-wise Error Rate,FWER)和/或錯誤發現率(False Discovery Proportion,FDP)等誤差度量,可以減小或避免資料窺視偏差。通過放寬總體錯誤率以容許更多錯誤地拒絕的模型以及應用重新中心化技術以將評估中包括的潛在「不良」模型納入考慮,可以增大該方法的檢定效能。
Original languageChinese
Patent numberI560635
Publication statusPublished - 2015 Apr 16

Cite this

Yen, M-F. (2015). 模型評量與選擇的系統與方法. (Patent No. I560635).