檢測產品品質超規與評估產品實際量測值的方法

Fan-Tien Cheng (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

一種偵測產品品質超規與評估產品實際量測值的方法。此偵測產品品質超規的方法係應用分類與迴歸樹(Classification and Regression Tree;CART)方法來建構代表製程參數與產品超規間之關係的FD(Fault Detection;品質超規偵測)模型,以於生產線上即時偵測出製程資料參數值皆在規格內(正常)而其產品品質卻超出規格的情況。此評估產品實際量測值的方法根據自適應性共振理論2 (Adaptive Resonance Theory 2;ART2)及標準化變異(Normalized Variability;NV) 來建立DQIy(量測資料品質指標)模型。
Original languageChinese
Patent numberZL 2008 1 0181649.2
Publication statusPublished - 2010 Jun 16

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year = "2010",
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檢測產品品質超規與評估產品實際量測值的方法. / Cheng, Fan-Tien (Inventor).

Patent No.: ZL 2008 1 0181649.2.

Research output: Patent

TY - PAT

T1 - 檢測產品品質超規與評估產品實際量測值的方法

AU - Cheng, Fan-Tien

PY - 2010/6/16

Y1 - 2010/6/16

N2 - 一種偵測產品品質超規與評估產品實際量測值的方法。此偵測產品品質超規的方法係應用分類與迴歸樹(Classification and Regression Tree;CART)方法來建構代表製程參數與產品超規間之關係的FD(Fault Detection;品質超規偵測)模型,以於生產線上即時偵測出製程資料參數值皆在規格內(正常)而其產品品質卻超出規格的情況。此評估產品實際量測值的方法根據自適應性共振理論2 (Adaptive Resonance Theory 2;ART2)及標準化變異(Normalized Variability;NV) 來建立DQIy(量測資料品質指標)模型。

AB - 一種偵測產品品質超規與評估產品實際量測值的方法。此偵測產品品質超規的方法係應用分類與迴歸樹(Classification and Regression Tree;CART)方法來建構代表製程參數與產品超規間之關係的FD(Fault Detection;品質超規偵測)模型,以於生產線上即時偵測出製程資料參數值皆在規格內(正常)而其產品品質卻超出規格的情況。此評估產品實際量測值的方法根據自適應性共振理論2 (Adaptive Resonance Theory 2;ART2)及標準化變異(Normalized Variability;NV) 來建立DQIy(量測資料品質指標)模型。

M3 - Patent

M1 - ZL 2008 1 0181649.2

ER -