演算法本質平行度之量化及分析方法

Gwo-Giun Lee (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

一種演算法本質平行度之量化及分析方法,適用於組配一處理單元以量化及分析一演算法之本質平行度,其包含以下步驟:組配該處理單元以得到該演算法之數個表示元件、組配該處理單元以根據該等表示元件得到一對應之拉普拉斯矩陣、組配該處理單元以計算該拉普拉斯矩陣之特徵值及特徵向量組;及組配該處理單元以根據該等特徵值及特徵向量,以得到該演算法之一本質平行度資料。
Original languageChinese
Patent numberCN103180821B
Publication statusPublished - 1800

Cite this

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title = "演算法本質平行度之量化及分析方法",
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author = "Gwo-Giun Lee",
year = "1800",
language = "Chinese",
type = "Patent",
note = "CN103180821B",

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演算法本質平行度之量化及分析方法. / Lee, Gwo-Giun (Inventor).

Patent No.: CN103180821B.

Research output: Patent

TY - PAT

T1 - 演算法本質平行度之量化及分析方法

AU - Lee, Gwo-Giun

PY - 1800

Y1 - 1800

N2 - 一種演算法本質平行度之量化及分析方法,適用於組配一處理單元以量化及分析一演算法之本質平行度,其包含以下步驟:組配該處理單元以得到該演算法之數個表示元件、組配該處理單元以根據該等表示元件得到一對應之拉普拉斯矩陣、組配該處理單元以計算該拉普拉斯矩陣之特徵值及特徵向量組;及組配該處理單元以根據該等特徵值及特徵向量,以得到該演算法之一本質平行度資料。

AB - 一種演算法本質平行度之量化及分析方法,適用於組配一處理單元以量化及分析一演算法之本質平行度,其包含以下步驟:組配該處理單元以得到該演算法之數個表示元件、組配該處理單元以根據該等表示元件得到一對應之拉普拉斯矩陣、組配該處理單元以計算該拉普拉斯矩陣之特徵值及特徵向量組;及組配該處理單元以根據該等特徵值及特徵向量,以得到該演算法之一本質平行度資料。

M3 - Patent

M1 - CN103180821B

ER -