灰泥璧畫三唯雷射掃瞄破壞偵測方法

Min-fu Hsu (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

一種灰泥壁畫三維雷射掃瞄破壞偵測方法,係以三維雷射掃描灰泥壁畫取得相關之點雲資料,藉由不規則三角網技術計算相關試體表面變化之等值圖,發現不同之破壞類型於等值圖上呈現具有該破壞類型之特徵圖樣;此圖樣經由與掃瞄案例之比對分析可以獲得灰泥壁畫破壞類型及相關位置之判釋。依據結果顯示,本發明使用三維雷射掃描技術具有快速且精準之操作特性,且不需接觸受檢物體,屬於非破壞性之檢測方式,能在短時間內獲取受檢物體全面及大量之表面變異資訊進行比對,故以非接觸式三維雷射掃描技術進行輔助灰泥壁畫表面破壞類型及三維位置之判釋,不僅可以有效提升古蹟修護之精準度與時效性,亦可大為降低因人為因素或主觀認定而產生之誤判,未來將有助於快速並準確進行相關破壞偵測工作之推行。
Original languageChinese
Patent numberI566207
Publication statusPublished - 2014 Oct 1

Cite this

Hsu, M. (2014). 灰泥璧畫三唯雷射掃瞄破壞偵測方法. (Patent No. I566207).
Hsu, Min-fu (Inventor). / 灰泥璧畫三唯雷射掃瞄破壞偵測方法. Patent No.: I566207.
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author = "Min-fu Hsu",
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Hsu, M 2014, 灰泥璧畫三唯雷射掃瞄破壞偵測方法, Patent No. I566207.

灰泥璧畫三唯雷射掃瞄破壞偵測方法. / Hsu, Min-fu (Inventor).

Patent No.: I566207.

Research output: Patent

TY - PAT

T1 - 灰泥璧畫三唯雷射掃瞄破壞偵測方法

AU - Hsu, Min-fu

PY - 2014/10/1

Y1 - 2014/10/1

N2 - 一種灰泥壁畫三維雷射掃瞄破壞偵測方法,係以三維雷射掃描灰泥壁畫取得相關之點雲資料,藉由不規則三角網技術計算相關試體表面變化之等值圖,發現不同之破壞類型於等值圖上呈現具有該破壞類型之特徵圖樣;此圖樣經由與掃瞄案例之比對分析可以獲得灰泥壁畫破壞類型及相關位置之判釋。依據結果顯示,本發明使用三維雷射掃描技術具有快速且精準之操作特性,且不需接觸受檢物體,屬於非破壞性之檢測方式,能在短時間內獲取受檢物體全面及大量之表面變異資訊進行比對,故以非接觸式三維雷射掃描技術進行輔助灰泥壁畫表面破壞類型及三維位置之判釋,不僅可以有效提升古蹟修護之精準度與時效性,亦可大為降低因人為因素或主觀認定而產生之誤判,未來將有助於快速並準確進行相關破壞偵測工作之推行。

AB - 一種灰泥壁畫三維雷射掃瞄破壞偵測方法,係以三維雷射掃描灰泥壁畫取得相關之點雲資料,藉由不規則三角網技術計算相關試體表面變化之等值圖,發現不同之破壞類型於等值圖上呈現具有該破壞類型之特徵圖樣;此圖樣經由與掃瞄案例之比對分析可以獲得灰泥壁畫破壞類型及相關位置之判釋。依據結果顯示,本發明使用三維雷射掃描技術具有快速且精準之操作特性,且不需接觸受檢物體,屬於非破壞性之檢測方式,能在短時間內獲取受檢物體全面及大量之表面變異資訊進行比對,故以非接觸式三維雷射掃描技術進行輔助灰泥壁畫表面破壞類型及三維位置之判釋,不僅可以有效提升古蹟修護之精準度與時效性,亦可大為降低因人為因素或主觀認定而產生之誤判,未來將有助於快速並準確進行相關破壞偵測工作之推行。

M3 - Patent

M1 - I566207

ER -

Hsu M, inventor. 灰泥璧畫三唯雷射掃瞄破壞偵測方法. I566207. 2014 Oct 1.