用於微流體晶片之微粒定量方法

Research output: Patent

Abstract

一種用於微流體晶片之微粒定量方法,包含以下步驟:(a)俯視或仰視擷取微流體晶片中之微粒團簇影像;(b)分析微粒團簇影像各單位畫素之透光性,而計算出各單位畫素的高度,並由各單位畫素之高度與單位畫素面積大小估算出微粒團簇之總體積;及(c)由微粒團簇總體積、單一微粒體積、流體流速與微粒聚集時間,定量出微粒濃度。透過擷取微粒團簇影像,且依據微團簇影像各單位畫素之透光性估算微粒堆疊高度的影像分析方法,可於微流體晶片進行微粒分選捕捉過程中,即時進行微粒之定量,可大幅縮短微粒定量所需的時間。
Original languageChinese (Traditional)
Patent numberI429906
Publication statusPublished - 1800

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