磁性穿遂接面結構之絕緣層檢測法

Jung-Chun Huang (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

一種磁性穿遂接面結構之絕緣層檢測法,所述磁性穿遂接面結構具有依序上下疊接之一上鐵磁層、一絕緣層及一下鐵磁層,磁性穿遂接面結構之絕緣層檢測法包含以下步驟:(A)量測上、下鐵磁層間於不同頻率下之電容。(B)由步驟(A)所量測之電容變化情形,判測絕緣層之品質優劣。
Original languageChinese (Traditional)
Patent numberI259281
Publication statusPublished - 1800

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