自動對焦之光纖式光學同調斷層掃描之方法及裝置

Yu-Lung Lo (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

本發明係為一種自動對焦之光纖式光學同調斷層掃描之方法及裝置,其係在於將待測物體置於於待測平移台上,經控制單元使光源發出第一道光束,再透過光纖耦合器分為第二、三、四道光束,其中第二道光束作為掃描時的參考點,第三道光束作為掃描時之參考光線,又第四道光束則作為探測待測物體之探測光線,然後自動對焦單元則移動DVD光學讀取頭自動進行對焦,而光接受器則將該第二、三、四光束間所干涉之光訊號轉變為電訊號,經由處理器分析該電訊號後,於顯示單元上顯示出被測物體之影像及相關資訊。
Original languageChinese
Patent numberI279606
Publication statusPublished - 1800

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