高功率雷射束之位置感測系統

Translated title of the contribution: 高功率雷射束之位置感測系統

Shang-Liang Chen (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

本發明提出新的、有效而實用的高功率雷射束的線上位置感測系統。此技術應用於高功率雷射加工時,對其加工品質之良莠具關鍵性地位。
本系統使用一分光鏡反射一小部份之雷射束能量,進入一旋轉狹縫雷射位置感測裝置,以達成高功率雷射束位置感測之目的。本系統重要之元件包括:分光鏡(beam splitter),旋轉狹縫(rotating slit),聚焦鏡(focusing lens),及光感測器與放大器(photosensor,Amp.),數據擷取卡(data acquisition),及個人電腦(PC-586)。感測的信號與雷射束功率,雷射束半徑,雷射束位置,及旋轉狹縫之縫寬有關。本系統可在2秒內預測高功率雷射束之能量中心,如雷射束之半徑已知,本系統可精確的預測高功率雷射束之絕對位置,同時將感測到的能量信號加以積分,可精確計算出雷射束的功率。
Original languageChinese
Patent number106834
IPCB23K-026/02
Priority date16-04-01
Filing date96-04-02
Publication statusPublished - 1999 Aug 1

Cite this

Chen, S-L. (1999). IPC No. B23K-026/02. 高功率雷射束之位置感測系統. (Patent No. 106834).
Chen, Shang-Liang (Inventor). / 高功率雷射束之位置感測系統. IPC No.: B23K-026/02. Patent No.: 106834. Apr 02, 1996.
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Chen, S-L Apr. 02 1996, 高功率雷射束之位置感測系統, Patent No. 106834, IPC No. B23K-026/02.

高功率雷射束之位置感測系統. / Chen, Shang-Liang (Inventor).

IPC No.: B23K-026/02. Patent No.: 106834. Apr 02, 1996.

Research output: Patent

TY - PAT

T1 - 高功率雷射束之位置感測系統

AU - Chen, Shang-Liang

PY - 1999/8/1

Y1 - 1999/8/1

N2 - 本發明提出新的、有效而實用的高功率雷射束的線上位置感測系統。此技術應用於高功率雷射加工時,對其加工品質之良莠具關鍵性地位。本系統使用一分光鏡反射一小部份之雷射束能量,進入一旋轉狹縫雷射位置感測裝置,以達成高功率雷射束位置感測之目的。本系統重要之元件包括:分光鏡(beam splitter),旋轉狹縫(rotating slit),聚焦鏡(focusing lens),及光感測器與放大器(photosensor,Amp.),數據擷取卡(data acquisition),及個人電腦(PC-586)。感測的信號與雷射束功率,雷射束半徑,雷射束位置,及旋轉狹縫之縫寬有關。本系統可在2秒內預測高功率雷射束之能量中心,如雷射束之半徑已知,本系統可精確的預測高功率雷射束之絕對位置,同時將感測到的能量信號加以積分,可精確計算出雷射束的功率。

AB - 本發明提出新的、有效而實用的高功率雷射束的線上位置感測系統。此技術應用於高功率雷射加工時,對其加工品質之良莠具關鍵性地位。本系統使用一分光鏡反射一小部份之雷射束能量,進入一旋轉狹縫雷射位置感測裝置,以達成高功率雷射束位置感測之目的。本系統重要之元件包括:分光鏡(beam splitter),旋轉狹縫(rotating slit),聚焦鏡(focusing lens),及光感測器與放大器(photosensor,Amp.),數據擷取卡(data acquisition),及個人電腦(PC-586)。感測的信號與雷射束功率,雷射束半徑,雷射束位置,及旋轉狹縫之縫寬有關。本系統可在2秒內預測高功率雷射束之能量中心,如雷射束之半徑已知,本系統可精確的預測高功率雷射束之絕對位置,同時將感測到的能量信號加以積分,可精確計算出雷射束的功率。

M3 - Patent

M1 - 106834

Y2 - 1996/04/02

ER -

Chen S-L, inventor. 高功率雷射束之位置感測系統. B23K-026/02. 1999 Aug 1.