A method for calculating a capacity of a super capacitor

Mi-Ching Tsai (Inventor), Shyh-Jier Huang (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

一種超電容之電容能力估算方法,可以估算超電容之電容能力,電容能力可包含電容值或電荷值,該超電容之電容能力估算方法包含:設定一第一區間數值(M),根據該第一區間數值(M),將超電容電壓劃分為數個第一電壓區間(V1~VM);根據 ,得到電容值估算結果,其中,C為電容值估算結果,CM為各第一電壓區間之平均電容值,u(‧)為步階函數,V為超電容之額定電壓或量測電壓,VM為第一電壓區間之邊界值。此外,可根據電容值估算結果進而估算超電容之電荷量。
Original languageEnglish
Patent numberI468713
Publication statusPublished - 1800

Cite this

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author = "Mi-Ching Tsai and Shyh-Jier Huang",
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type = "Patent",
note = "I468713",

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TY - PAT

T1 - A method for calculating a capacity of a super capacitor

AU - Tsai, Mi-Ching

AU - Huang, Shyh-Jier

PY - 1800

Y1 - 1800

N2 - 一種超電容之電容能力估算方法,可以估算超電容之電容能力,電容能力可包含電容值或電荷值,該超電容之電容能力估算方法包含:設定一第一區間數值(M),根據該第一區間數值(M),將超電容電壓劃分為數個第一電壓區間(V1~VM);根據 ,得到電容值估算結果,其中,C為電容值估算結果,CM為各第一電壓區間之平均電容值,u(‧)為步階函數,V為超電容之額定電壓或量測電壓,VM為第一電壓區間之邊界值。此外,可根據電容值估算結果進而估算超電容之電荷量。

AB - 一種超電容之電容能力估算方法,可以估算超電容之電容能力,電容能力可包含電容值或電荷值,該超電容之電容能力估算方法包含:設定一第一區間數值(M),根據該第一區間數值(M),將超電容電壓劃分為數個第一電壓區間(V1~VM);根據 ,得到電容值估算結果,其中,C為電容值估算結果,CM為各第一電壓區間之平均電容值,u(‧)為步階函數,V為超電容之額定電壓或量測電壓,VM為第一電壓區間之邊界值。此外,可根據電容值估算結果進而估算超電容之電荷量。

M3 - Patent

M1 - I468713

ER -