analog to digital converter system for residue oversampling and method thereof

Soon-Jyh Chang (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

本發明有關於一種適用於殘值超取樣之類比數位轉換系統及其方法,係針對類比輸入電壓做一次性取樣與多次性量化程序,以降低雜訊影響,系統包括有取樣電路單元、第一類比數位轉換器、洗牌電路單元、數位類比轉換器、類比減法單元、第二類比數位轉換器與第一解碼器;藉此,本發明藉由排列不同電容陣列以產生不同的電壓殘值,以對該等電壓殘值解析出一精確之數位碼,在不需要使用複雜校正電路的前提下,即可有效達到增加類比數位轉換器精確度之優勢。
Original languageEnglish
Patent numberI561013
Publication statusPublished - 1800

Cite this

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title = "analog to digital converter system for residue oversampling and method thereof",
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author = "Soon-Jyh Chang",
year = "1800",
language = "English",
type = "Patent",
note = "I561013",

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TY - PAT

T1 - analog to digital converter system for residue oversampling and method thereof

AU - Chang, Soon-Jyh

PY - 1800

Y1 - 1800

N2 - 本發明有關於一種適用於殘值超取樣之類比數位轉換系統及其方法,係針對類比輸入電壓做一次性取樣與多次性量化程序,以降低雜訊影響,系統包括有取樣電路單元、第一類比數位轉換器、洗牌電路單元、數位類比轉換器、類比減法單元、第二類比數位轉換器與第一解碼器;藉此,本發明藉由排列不同電容陣列以產生不同的電壓殘值,以對該等電壓殘值解析出一精確之數位碼,在不需要使用複雜校正電路的前提下,即可有效達到增加類比數位轉換器精確度之優勢。

AB - 本發明有關於一種適用於殘值超取樣之類比數位轉換系統及其方法,係針對類比輸入電壓做一次性取樣與多次性量化程序,以降低雜訊影響,系統包括有取樣電路單元、第一類比數位轉換器、洗牌電路單元、數位類比轉換器、類比減法單元、第二類比數位轉換器與第一解碼器;藉此,本發明藉由排列不同電容陣列以產生不同的電壓殘值,以對該等電壓殘值解析出一精確之數位碼,在不需要使用複雜校正電路的前提下,即可有效達到增加類比數位轉換器精確度之優勢。

M3 - Patent

M1 - I561013

ER -