Abstract
本發明有關於一種適用於殘值超取樣之類比數位轉換系統及其方法，係針對類比輸入電壓做一次性取樣與多次性量化程序，以降低雜訊影響，系統包括有取樣電路單元、第一類比數位轉換器、洗牌電路單元、數位類比轉換器、類比減法單元、第二類比數位轉換器與第一解碼器；藉此，本發明藉由排列不同電容陣列以產生不同的電壓殘值，以對該等電壓殘值解析出一精確之數位碼，在不需要使用複雜校正電路的前提下，即可有效達到增加類比數位轉換器精確度之優勢。
| Translated title of the contribution | 適用於殘值超取樣之類比數位轉換系統及其方法 |
|---|---|
| Original language | English |
| Patent number | I561013 |
| Publication status | Published - 1800 |