BALANCE ANALYSIS EVALUATION DEVICE AND ANALYSIS EVALUATION METHOD THEREOF

Pau-Choo Chung (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

一種平衡分析評估裝置包括一量測模組、一平衡參數運算模組以及一平衡能力分析模組。量測模組感測一受測者執行靜態平衡或動態平衡之動作而產生至少一平衡感測訊號。平衡參數運算模組依據平衡感測訊號進行一質量中心偏移速度分析與一質量中心偏移軌跡分析而產生一質量中心偏移軌跡訊號,進而產生複數個質量中心晃動參數。平衡能力分析模組依據該些質量中心晃動參數進行平衡能力分析,以產生一平衡能力分析結果。本發明亦揭露一種平衡分析評估方法。
Original languageEnglish
Patent numberI577340
Publication statusPublished - 1800

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author = "Pau-Choo Chung",
year = "1800",
language = "English",
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note = "I577340",

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TY - PAT

T1 - BALANCE ANALYSIS EVALUATION DEVICE AND ANALYSIS EVALUATION METHOD THEREOF

AU - Chung, Pau-Choo

PY - 1800

Y1 - 1800

N2 - 一種平衡分析評估裝置包括一量測模組、一平衡參數運算模組以及一平衡能力分析模組。量測模組感測一受測者執行靜態平衡或動態平衡之動作而產生至少一平衡感測訊號。平衡參數運算模組依據平衡感測訊號進行一質量中心偏移速度分析與一質量中心偏移軌跡分析而產生一質量中心偏移軌跡訊號,進而產生複數個質量中心晃動參數。平衡能力分析模組依據該些質量中心晃動參數進行平衡能力分析,以產生一平衡能力分析結果。本發明亦揭露一種平衡分析評估方法。

AB - 一種平衡分析評估裝置包括一量測模組、一平衡參數運算模組以及一平衡能力分析模組。量測模組感測一受測者執行靜態平衡或動態平衡之動作而產生至少一平衡感測訊號。平衡參數運算模組依據平衡感測訊號進行一質量中心偏移速度分析與一質量中心偏移軌跡分析而產生一質量中心偏移軌跡訊號,進而產生複數個質量中心晃動參數。平衡能力分析模組依據該些質量中心晃動參數進行平衡能力分析,以產生一平衡能力分析結果。本發明亦揭露一種平衡分析評估方法。

M3 - Patent

M1 - I577340

ER -