Abstract
一種標的裝置(TD)的基底預測保養方法與其電腦程式產品。首先，收集此標的裝置剛進行維修保養後所產生之複數個新鮮樣本。接著，收集標的裝置生產新工件所產生之一新工件樣本。使用建模樣本並根據一推估演算法來建立一TD基底模型，其中建模樣本包含有上述之複數個新鮮樣本和剛收集的新工件樣本。然後，由TD基底模型來計算出新工件之TD健康基底值(?B)，並計算出裝置健康指數(DHI)、基底誤差指數(BEI)、及基底個體相似度指標(ISIB)，藉以達到錯誤偵測及診斷(FDC)和預測保養(PdM)的目標。
| Translated title of the contribution | 標的裝置的基底預測保養方法與其電腦程式產品 |
|---|---|
| Original language | English |
| Patent number | I463334 |
| Publication status | Published - 2014 Feb 1 |