Abstract
一種測顱片(Cephalogram)的影像分析方法。在此方法中，首先進行一建立參考資料庫的步驟，藉以根據複數個歷史描軌圖，來建立分別代表複數個參考頭顱型態的複數個描軌特徵曲線模型。接著，進行一型態比對分析的步驟。在此型態比對分析的步驟中，首先輸入至少一測顱片。接著，分別將至少一測顱片的影像與描軌特徵曲線模型進行比對步驟，以自參考頭顱型態和描軌特徵曲線模型中選取出至少一頭顱型態和屬於此至少一頭顱型態之至少一特徵曲線模型。然後，將特徵曲線模型套用至測顱片的影像上，以獲得符合測顱片之影像的描軌圖。
| Translated title of the contribution | 測顱片的影像分析方法 |
|---|---|
| Original language | English |
| Patent number | I323171 |
| Publication status | Published - 1800 |