DEBUG CONTROL SYSTEM AND METHOD BY USE OF INSIDE-CORE EVENTS SERVED AS TRIGGER CONDITION

Kuen-Jong Lee (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

本發明係有關於一種以電路內部事件作為觸發條件之除錯控制系統及其方法,應用於一待除錯電路中,其方法包括根據待除錯電路內部狀態設定至少一個觸發條件以及一搜尋時脈週期範圍;於搜尋時脈週期範圍內的每一個時脈進行時脈暫停和恢復的動作;並利用一移位緩衝器於時脈暫停時擷取待除錯電路掃描練中的資料;再藉由事件觸發比較電路,將掃描練的資料重新排列組合成為觸發訊號,並檢查處發訊號是否符合觸發條件;若符合或超過搜尋時脈週期範圍則繼續暫停時脈,並將待除錯電路內部掃描鍊的狀態輸出,反之則恢復待除錯電路運作。
Original languageEnglish
Patent numberI472912
Publication statusPublished - 1800

Cite this

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author = "Kuen-Jong Lee",
year = "1800",
language = "English",
type = "Patent",
note = "I472912",

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TY - PAT

T1 - DEBUG CONTROL SYSTEM AND METHOD BY USE OF INSIDE-CORE EVENTS SERVED AS TRIGGER CONDITION

AU - Lee, Kuen-Jong

PY - 1800

Y1 - 1800

N2 - 本發明係有關於一種以電路內部事件作為觸發條件之除錯控制系統及其方法,應用於一待除錯電路中,其方法包括根據待除錯電路內部狀態設定至少一個觸發條件以及一搜尋時脈週期範圍;於搜尋時脈週期範圍內的每一個時脈進行時脈暫停和恢復的動作;並利用一移位緩衝器於時脈暫停時擷取待除錯電路掃描練中的資料;再藉由事件觸發比較電路,將掃描練的資料重新排列組合成為觸發訊號,並檢查處發訊號是否符合觸發條件;若符合或超過搜尋時脈週期範圍則繼續暫停時脈,並將待除錯電路內部掃描鍊的狀態輸出,反之則恢復待除錯電路運作。

AB - 本發明係有關於一種以電路內部事件作為觸發條件之除錯控制系統及其方法,應用於一待除錯電路中,其方法包括根據待除錯電路內部狀態設定至少一個觸發條件以及一搜尋時脈週期範圍;於搜尋時脈週期範圍內的每一個時脈進行時脈暫停和恢復的動作;並利用一移位緩衝器於時脈暫停時擷取待除錯電路掃描練中的資料;再藉由事件觸發比較電路,將掃描練的資料重新排列組合成為觸發訊號,並檢查處發訊號是否符合觸發條件;若符合或超過搜尋時脈週期範圍則繼續暫停時脈,並將待除錯電路內部掃描鍊的狀態輸出,反之則恢復待除錯電路運作。

M3 - Patent

M1 - I472912

ER -