Abstract
一種半導體材料檢測方法包括驅使半導體材料發光、以一檢測模組取得半導體材料發光之一影像、以一處理模組強化影像之訊號、以處理模組去除影像中半導體材料之背景、以處理模組分析影像中半導體材料之亮度以及以處理模組定位影像中半導體材料之缺陷。本發明亦揭露一種半導體材料之影像處理方法。
| Original language | English |
|---|---|
| Patent number | I477761 |
| Publication status | Published - 1800 |
Cite this
Fang, J-J. (1800). DETECTING METHOD OF SEMICONDUCTOR MATERIAL AND IMAGE PROCESSING METHOD THEREOF. (Patent No. I477761).
@misc{e0d9574a608d43099bae8e980aa2c3e2,
title = "DETECTING METHOD OF SEMICONDUCTOR MATERIAL AND IMAGE PROCESSING METHOD THEREOF",
abstract = "一種半導體材料檢測方法包括驅使半導體材料發光、以一檢測模組取得半導體材料發光之一影像、以一處理模組強化影像之訊號、以處理模組去除影像中半導體材料之背景、以處理模組分析影像中半導體材料之亮度以及以處理模組定位影像中半導體材料之缺陷。本發明亦揭露一種半導體材料之影像處理方法。",
author = "Jing-Jing Fang",
year = "1800",
language = "English",
type = "Patent",
note = "I477761",
}
Fang, J-J 1800, DETECTING METHOD OF SEMICONDUCTOR MATERIAL AND IMAGE PROCESSING METHOD THEREOF, Patent No. I477761.
DETECTING METHOD OF SEMICONDUCTOR MATERIAL AND IMAGE PROCESSING METHOD THEREOF. / Fang, Jing-Jing (Inventor).
Patent No.: I477761.Research output: Patent
TY - PAT
T1 - DETECTING METHOD OF SEMICONDUCTOR MATERIAL AND IMAGE PROCESSING METHOD THEREOF
AU - Fang, Jing-Jing
PY - 1800
Y1 - 1800
N2 - 一種半導體材料檢測方法包括驅使半導體材料發光、以一檢測模組取得半導體材料發光之一影像、以一處理模組強化影像之訊號、以處理模組去除影像中半導體材料之背景、以處理模組分析影像中半導體材料之亮度以及以處理模組定位影像中半導體材料之缺陷。本發明亦揭露一種半導體材料之影像處理方法。
AB - 一種半導體材料檢測方法包括驅使半導體材料發光、以一檢測模組取得半導體材料發光之一影像、以一處理模組強化影像之訊號、以處理模組去除影像中半導體材料之背景、以處理模組分析影像中半導體材料之亮度以及以處理模組定位影像中半導體材料之缺陷。本發明亦揭露一種半導體材料之影像處理方法。
M3 - Patent
M1 - I477761
ER -
Fang J-J, inventor. DETECTING METHOD OF SEMICONDUCTOR MATERIAL AND IMAGE PROCESSING METHOD THEREOF. I477761. 1800.