DETECTING METHOD OF SEMICONDUCTOR MATERIAL AND IMAGE PROCESSING METHOD THEREOF

Jing-Jing Fang (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

一種半導體材料檢測方法包括驅使半導體材料發光、以一檢測模組取得半導體材料發光之一影像、以一處理模組強化影像之訊號、以處理模組去除影像中半導體材料之背景、以處理模組分析影像中半導體材料之亮度以及以處理模組定位影像中半導體材料之缺陷。本發明亦揭露一種半導體材料之影像處理方法。
Original languageEnglish
Patent numberI477761
Publication statusPublished - 1800

Cite this

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note = "I477761",

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TY - PAT

T1 - DETECTING METHOD OF SEMICONDUCTOR MATERIAL AND IMAGE PROCESSING METHOD THEREOF

AU - Fang, Jing-Jing

PY - 1800

Y1 - 1800

N2 - 一種半導體材料檢測方法包括驅使半導體材料發光、以一檢測模組取得半導體材料發光之一影像、以一處理模組強化影像之訊號、以處理模組去除影像中半導體材料之背景、以處理模組分析影像中半導體材料之亮度以及以處理模組定位影像中半導體材料之缺陷。本發明亦揭露一種半導體材料之影像處理方法。

AB - 一種半導體材料檢測方法包括驅使半導體材料發光、以一檢測模組取得半導體材料發光之一影像、以一處理模組強化影像之訊號、以處理模組去除影像中半導體材料之背景、以處理模組分析影像中半導體材料之亮度以及以處理模組定位影像中半導體材料之缺陷。本發明亦揭露一種半導體材料之影像處理方法。

M3 - Patent

M1 - I477761

ER -