Abstract
本發明係有關於一種抗原檢測方法，係用以檢測一第一抗原，包括步驟：(A)提供複數表面連接有第一DNA片段之磁珠；提供複數第一抗體，其藉由第二DNA片段與第一DNA片段配對而連接至磁珠，使形成複數抗原檢測基質﹔(B)將待檢測樣品與抗原檢測基質接觸﹔(C)加熱至預設溫度，使該第一DNA片段與該第二DNA片段分離，並得到第一溶液﹔(D)提供一基板，且基板之表面係與複數第二抗體連結(immobilize)，
| Original language | English |
|---|---|
| Patent number | I484184 |
| Publication status | Published - 1800 |
Cite this
Shieh, D-B. (1800). detection method for antigen. (Patent No. I484184).
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title = "detection method for antigen",
abstract = "本發明係有關於一種抗原檢測方法，係用以檢測一第一抗原，包括步驟：(A)提供複數表面連接有第一DNA片段之磁珠；提供複數第一抗體，其藉由第二DNA片段與第一DNA片段配對而連接至磁珠，使形成複數抗原檢測基質﹔(B)將待檢測樣品與抗原檢測基質接觸﹔(C)加熱至預設溫度，使該第一DNA片段與該第二DNA片段分離，並得到第一溶液﹔(D)提供一基板，且基板之表面係與複數第二抗體連結(immobilize)，",
author = "Dar-Bin Shieh",
year = "1800",
language = "English",
type = "Patent",
note = "I484184",
}
Shieh, D-B 1800, detection method for antigen, Patent No. I484184.
detection method for antigen. / Shieh, Dar-Bin (Inventor).
Patent No.: I484184.Research output: Patent
TY - PAT
T1 - detection method for antigen
AU - Shieh, Dar-Bin
PY - 1800
Y1 - 1800
N2 - 本發明係有關於一種抗原檢測方法，係用以檢測一第一抗原，包括步驟：(A)提供複數表面連接有第一DNA片段之磁珠；提供複數第一抗體，其藉由第二DNA片段與第一DNA片段配對而連接至磁珠，使形成複數抗原檢測基質﹔(B)將待檢測樣品與抗原檢測基質接觸﹔(C)加熱至預設溫度，使該第一DNA片段與該第二DNA片段分離，並得到第一溶液﹔(D)提供一基板，且基板之表面係與複數第二抗體連結(immobilize)，
AB - 本發明係有關於一種抗原檢測方法，係用以檢測一第一抗原，包括步驟：(A)提供複數表面連接有第一DNA片段之磁珠；提供複數第一抗體，其藉由第二DNA片段與第一DNA片段配對而連接至磁珠，使形成複數抗原檢測基質﹔(B)將待檢測樣品與抗原檢測基質接觸﹔(C)加熱至預設溫度，使該第一DNA片段與該第二DNA片段分離，並得到第一溶液﹔(D)提供一基板，且基板之表面係與複數第二抗體連結(immobilize)，
M3 - Patent
M1 - I484184
ER -
Shieh D-B, inventor. detection method for antigen. I484184. 1800.