detection method for antigen

Dar-Bin Shieh (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

本發明係有關於一種抗原檢測方法,係用以檢測一第一抗原,包括步驟:(A)提供複數表面連接有第一DNA片段之磁珠;提供複數第一抗體,其藉由第二DNA片段與第一DNA片段配對而連接至磁珠,使形成複數抗原檢測基質﹔(B)將待檢測樣品與抗原檢測基質接觸﹔(C)加熱至預設溫度,使該第一DNA片段與該第二DNA片段分離,並得到第一溶液﹔(D)提供一基板,且基板之表面係與複數第二抗體連結(immobilize),
Original languageEnglish
Patent numberI484184
Publication statusPublished - 1800

Cite this

Shieh, D-B. (1800). detection method for antigen. (Patent No. I484184).
@misc{392a1c0863c24aeb84082e0db4c3115e,
title = "detection method for antigen",
abstract = "本發明係有關於一種抗原檢測方法,係用以檢測一第一抗原,包括步驟:(A)提供複數表面連接有第一DNA片段之磁珠;提供複數第一抗體,其藉由第二DNA片段與第一DNA片段配對而連接至磁珠,使形成複數抗原檢測基質﹔(B)將待檢測樣品與抗原檢測基質接觸﹔(C)加熱至預設溫度,使該第一DNA片段與該第二DNA片段分離,並得到第一溶液﹔(D)提供一基板,且基板之表面係與複數第二抗體連結(immobilize),",
author = "Dar-Bin Shieh",
year = "1800",
language = "English",
type = "Patent",
note = "I484184",

}

Shieh, D-B 1800, detection method for antigen, Patent No. I484184.

detection method for antigen. / Shieh, Dar-Bin (Inventor).

Patent No.: I484184.

Research output: Patent

TY - PAT

T1 - detection method for antigen

AU - Shieh, Dar-Bin

PY - 1800

Y1 - 1800

N2 - 本發明係有關於一種抗原檢測方法,係用以檢測一第一抗原,包括步驟:(A)提供複數表面連接有第一DNA片段之磁珠;提供複數第一抗體,其藉由第二DNA片段與第一DNA片段配對而連接至磁珠,使形成複數抗原檢測基質﹔(B)將待檢測樣品與抗原檢測基質接觸﹔(C)加熱至預設溫度,使該第一DNA片段與該第二DNA片段分離,並得到第一溶液﹔(D)提供一基板,且基板之表面係與複數第二抗體連結(immobilize),

AB - 本發明係有關於一種抗原檢測方法,係用以檢測一第一抗原,包括步驟:(A)提供複數表面連接有第一DNA片段之磁珠;提供複數第一抗體,其藉由第二DNA片段與第一DNA片段配對而連接至磁珠,使形成複數抗原檢測基質﹔(B)將待檢測樣品與抗原檢測基質接觸﹔(C)加熱至預設溫度,使該第一DNA片段與該第二DNA片段分離,並得到第一溶液﹔(D)提供一基板,且基板之表面係與複數第二抗體連結(immobilize),

M3 - Patent

M1 - I484184

ER -

Shieh D-B, inventor. detection method for antigen. I484184. 1800.