GAIT ANALYSIS METHOD AND GAIT ANALYSIS SYSTEM

Jeen-Shing Wang (Inventor), Che?Wei Lin (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

一種步態分析方法由一步態分析系統實施,步態分析系統包括一感測單元、一處理單元以及一儲存單元,處理單元分別與感測單元及儲存單元電性連接,儲存單元儲存複數運算程式,步態分析方法包括:由感測單元感測一步態並輸出一感測訊號,其中一步態週期包含一站立期、一推蹬期、一擺動期及一觸地期;由處理單元依據感測訊號得到一向量振幅訊號及一振幅累積訊號;依據向量振幅訊號、振幅累積訊號辨識站立期、推蹬期、擺動期及觸地期,推蹬期、擺動期及觸地期係依據一動態閥值來決定;以及依據站立期、推蹬期、擺動期及觸地期對步態進行分類。本發明亦揭露一種步態分析系統。
Original languageEnglish
Patent numberI498846
Publication statusPublished - 1800

Cite this

@misc{e8a6896ad4c94f2496ae171d90f0a0d9,
title = "GAIT ANALYSIS METHOD AND GAIT ANALYSIS SYSTEM",
abstract = "一種步態分析方法由一步態分析系統實施,步態分析系統包括一感測單元、一處理單元以及一儲存單元,處理單元分別與感測單元及儲存單元電性連接,儲存單元儲存複數運算程式,步態分析方法包括:由感測單元感測一步態並輸出一感測訊號,其中一步態週期包含一站立期、一推蹬期、一擺動期及一觸地期;由處理單元依據感測訊號得到一向量振幅訊號及一振幅累積訊號;依據向量振幅訊號、振幅累積訊號辨識站立期、推蹬期、擺動期及觸地期,推蹬期、擺動期及觸地期係依據一動態閥值來決定;以及依據站立期、推蹬期、擺動期及觸地期對步態進行分類。本發明亦揭露一種步態分析系統。",
author = "Jeen-Shing Wang and Che?Wei Lin",
year = "1800",
language = "English",
type = "Patent",
note = "I498846",

}

TY - PAT

T1 - GAIT ANALYSIS METHOD AND GAIT ANALYSIS SYSTEM

AU - Wang, Jeen-Shing

AU - Lin, Che?Wei

PY - 1800

Y1 - 1800

N2 - 一種步態分析方法由一步態分析系統實施,步態分析系統包括一感測單元、一處理單元以及一儲存單元,處理單元分別與感測單元及儲存單元電性連接,儲存單元儲存複數運算程式,步態分析方法包括:由感測單元感測一步態並輸出一感測訊號,其中一步態週期包含一站立期、一推蹬期、一擺動期及一觸地期;由處理單元依據感測訊號得到一向量振幅訊號及一振幅累積訊號;依據向量振幅訊號、振幅累積訊號辨識站立期、推蹬期、擺動期及觸地期,推蹬期、擺動期及觸地期係依據一動態閥值來決定;以及依據站立期、推蹬期、擺動期及觸地期對步態進行分類。本發明亦揭露一種步態分析系統。

AB - 一種步態分析方法由一步態分析系統實施,步態分析系統包括一感測單元、一處理單元以及一儲存單元,處理單元分別與感測單元及儲存單元電性連接,儲存單元儲存複數運算程式,步態分析方法包括:由感測單元感測一步態並輸出一感測訊號,其中一步態週期包含一站立期、一推蹬期、一擺動期及一觸地期;由處理單元依據感測訊號得到一向量振幅訊號及一振幅累積訊號;依據向量振幅訊號、振幅累積訊號辨識站立期、推蹬期、擺動期及觸地期,推蹬期、擺動期及觸地期係依據一動態閥值來決定;以及依據站立期、推蹬期、擺動期及觸地期對步態進行分類。本發明亦揭露一種步態分析系統。

M3 - Patent

M1 - I498846

ER -