HISTOGRAM BASED TESTING METHOD FOR ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER

Bin-Da Liu (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

本發明係為一種測試方法,特別是指一種類比數位轉換器電路測試方法。為了改善傳統的類比數位轉換器測試不但需要執行直方圖分析來得到電路的靜態效能,同時還需要執行快速傅立葉轉換分析來得到電路的動態效能,本發明係提出一種僅單獨採用直方圖分析的技術來同時測試類比數位轉換器靜態與動態規格參數的測試方法。本案之主要概念便是在於將類比數位轉換器電路的每一個輸出數位碼(digital output code bin)的樣本(sample)次數做數學分析,來得到量化誤差的資訊,並藉對此資訊分析來評估電路的規格特性。
Original languageEnglish
Patent numberI311866
Publication statusPublished - 2007 Oct 1

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