MEASURING APPARATUS FOR MEASURING A PLURALITY OF ELECTRICAL PARAMETERS OF A CIRCUIT AND MEASURING METHOD THEREOF

Chu-Sing Yang (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

本案提出一種用以量測一電路之複數電性參數的量測裝置,其包含複數量測單元、複數接點群組、以及複數陣列式切換電路。該複數量測單元用以量測該複數電性參數。該複數陣列式切換電路分別電連接於該複數量測單元及該複數接點群組,用以分別可選擇地導通該複數陣列式切換電路至少其中之一及至少一相對應該接點群組中之一接點。
Original languageEnglish
Patent numberI484713
Publication statusPublished - 1800

Cite this

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author = "Chu-Sing Yang",
year = "1800",
language = "English",
type = "Patent",
note = "I484713",

}

TY - PAT

T1 - MEASURING APPARATUS FOR MEASURING A PLURALITY OF ELECTRICAL PARAMETERS OF A CIRCUIT AND MEASURING METHOD THEREOF

AU - Yang, Chu-Sing

PY - 1800

Y1 - 1800

N2 - 本案提出一種用以量測一電路之複數電性參數的量測裝置,其包含複數量測單元、複數接點群組、以及複數陣列式切換電路。該複數量測單元用以量測該複數電性參數。該複數陣列式切換電路分別電連接於該複數量測單元及該複數接點群組,用以分別可選擇地導通該複數陣列式切換電路至少其中之一及至少一相對應該接點群組中之一接點。

AB - 本案提出一種用以量測一電路之複數電性參數的量測裝置,其包含複數量測單元、複數接點群組、以及複數陣列式切換電路。該複數量測單元用以量測該複數電性參數。該複數陣列式切換電路分別電連接於該複數量測單元及該複數接點群組,用以分別可選擇地導通該複數陣列式切換電路至少其中之一及至少一相對應該接點群組中之一接點。

M3 - Patent

M1 - I484713

ER -