Abstract
本發明係揭露一種測顱片界標定位方法。在此測顱片界標定位方法中，首先提供測顱片之描軌圖樣板，其中每一樣板描軌圖具有描軌圖界標點座標。接著，對每一描軌圖進行第一特徵擷取步驟，以擷取每一描軌圖之描軌圖特徵。然後，進行第二特徵擷取步驟，以擷取目標測顱片之測顱片特徵。接著，進行特徵比較步驟，以根據測顱片特徵和每一描軌圖之描軌圖特徵，來從描軌圖中選取最小誤差描軌圖。然後，進行界標點調整步驟，以根據測顱片特徵和最小誤差描軌圖之描軌圖特徵，來調整最小誤差描軌圖之描軌圖界標點座標，以獲得測顱片之測顱片界標點座標。
| Translated title of the contribution | 測顱片界標定位方法 |
|---|---|
| Original language | English |
| Patent number | I368495 |
| Publication status | Published - 1800 |