NON-CONTACT PLANAR MICROWAVE MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD THEREOF

Chin-Lung Yang (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

一種非接觸式平面微波量測元件包含一基板、二饋入端以及一導線。基板具有相對設置之一第一表面及一第二表面。二饋入端分別設置於基板之二端。導線設置於第一表面上並電性連接該等饋入端。第二表面具有三諧振元件,該等諧振元件之該等諧振電流長度係不等長。
Translated title of the contribution非接觸式平面微波量測元件及其量測方法
Original languageEnglish
Patent numberI603079
Publication statusPublished - 1800

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