NON-CONTACT PLANAR MICROWAVE MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD THEREOF

Chin-Lung Yang (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

一種非接觸式平面微波量測元件包含一基板、二饋入端以及一導線。基板具有相對設置之一第一表面及一第二表面。二饋入端分別設置於基板之二端。導線設置於第一表面上並電性連接該等饋入端。第二表面具有三諧振元件,該等諧振元件之該等諧振電流長度係不等長。
Original languageEnglish
Patent numberI603079
Publication statusPublished - 1800

Cite this

@misc{057ddda6acc343f8866341c4e632a97c,
title = "NON-CONTACT PLANAR MICROWAVE MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD THEREOF",
abstract = "一種非接觸式平面微波量測元件包含一基板、二饋入端以及一導線。基板具有相對設置之一第一表面及一第二表面。二饋入端分別設置於基板之二端。導線設置於第一表面上並電性連接該等饋入端。第二表面具有三諧振元件,該等諧振元件之該等諧振電流長度係不等長。",
author = "Chin-Lung Yang",
year = "1800",
language = "English",
type = "Patent",
note = "I603079",

}

TY - PAT

T1 - NON-CONTACT PLANAR MICROWAVE MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD THEREOF

AU - Yang, Chin-Lung

PY - 1800

Y1 - 1800

N2 - 一種非接觸式平面微波量測元件包含一基板、二饋入端以及一導線。基板具有相對設置之一第一表面及一第二表面。二饋入端分別設置於基板之二端。導線設置於第一表面上並電性連接該等饋入端。第二表面具有三諧振元件,該等諧振元件之該等諧振電流長度係不等長。

AB - 一種非接觸式平面微波量測元件包含一基板、二饋入端以及一導線。基板具有相對設置之一第一表面及一第二表面。二饋入端分別設置於基板之二端。導線設置於第一表面上並電性連接該等饋入端。第二表面具有三諧振元件,該等諧振元件之該等諧振電流長度係不等長。

M3 - Patent

M1 - I603079

ER -