Abstract
一種光學檢測裝置係用以檢測一組織，並包含一發光單元、一分光單元以及一光感測陣列。發光單元發射光線進入該組織。分光單元係接收由組織射出之光線，並將其分為複數波長之光線。光感測陣列係感測由分光單元射出之光線並產生一陣列光譜。藉由分光單元，本發明不需使用多顆發光二極體即可達到多波長光線檢測之目的，且分光單元結合光感測陣列可達到直覺式的檢測效果，例如直觀地查知異常組織。
| Original language | English |
|---|---|
| Patent number | I472742 |
| Publication status | Published - 1800 |
Cite this
@misc{c7bdc4dcf2e84c4a9152cdd4794d001d,
title = "OPTICAL DETECTION APPARATUS",
abstract = "一種光學檢測裝置係用以檢測一組織，並包含一發光單元、一分光單元以及一光感測陣列。發光單元發射光線進入該組織。分光單元係接收由組織射出之光線，並將其分為複數波長之光線。光感測陣列係感測由分光單元射出之光線並產生一陣列光譜。藉由分光單元，本發明不需使用多顆發光二極體即可達到多波長光線檢測之目的，且分光單元結合光感測陣列可達到直覺式的檢測效果，例如直觀地查知異常組織。",
author = "Pau-Choo Chung and Dar-Bin Shieh",
year = "1800",
language = "English",
type = "Patent",
note = "I472742",
}
OPTICAL DETECTION APPARATUS. / Chung, Pau-Choo (Inventor); Shieh, Dar-Bin (Inventor).
Patent No.: I472742.Research output: Patent
TY - PAT
T1 - OPTICAL DETECTION APPARATUS
AU - Chung, Pau-Choo
AU - Shieh, Dar-Bin
PY - 1800
Y1 - 1800
N2 - 一種光學檢測裝置係用以檢測一組織，並包含一發光單元、一分光單元以及一光感測陣列。發光單元發射光線進入該組織。分光單元係接收由組織射出之光線，並將其分為複數波長之光線。光感測陣列係感測由分光單元射出之光線並產生一陣列光譜。藉由分光單元，本發明不需使用多顆發光二極體即可達到多波長光線檢測之目的，且分光單元結合光感測陣列可達到直覺式的檢測效果，例如直觀地查知異常組織。
AB - 一種光學檢測裝置係用以檢測一組織，並包含一發光單元、一分光單元以及一光感測陣列。發光單元發射光線進入該組織。分光單元係接收由組織射出之光線，並將其分為複數波長之光線。光感測陣列係感測由分光單元射出之光線並產生一陣列光譜。藉由分光單元，本發明不需使用多顆發光二極體即可達到多波長光線檢測之目的，且分光單元結合光感測陣列可達到直覺式的檢測效果，例如直觀地查知異常組織。
M3 - Patent
M1 - I472742
ER -