Abstract
一種光學檢測裝置係用以檢測一組織，並包含一發光單元、一分光單元以及一光感測陣列。發光單元發射光線進入該組織。分光單元係接收由組織射出之光線，並將其分為複數波長之光線。光感測陣列係感測由分光單元射出之光線並產生一陣列光譜。藉由分光單元，本發明不需使用多顆發光二極體即可達到多波長光線檢測之目的，且分光單元結合光感測陣列可達到直覺式的檢測效果，例如直觀地查知異常組織。
| Translated title of the contribution | 光學檢測裝置 |
|---|---|
| Original language | English |
| Patent number | I472742 |
| Publication status | Published - 1800 |