OPTICAL DETECTION APPARATUS

Pau-Choo Chung (Inventor), Dar-Bin Shieh (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

一種光學檢測裝置係用以檢測一組織,並包含一發光單元、一分光單元以及一光感測陣列。發光單元發射光線進入該組織。分光單元係接收由組織射出之光線,並將其分為複數波長之光線。光感測陣列係感測由分光單元射出之光線並產生一陣列光譜。藉由分光單元,本發明不需使用多顆發光二極體即可達到多波長光線檢測之目的,且分光單元結合光感測陣列可達到直覺式的檢測效果,例如直觀地查知異常組織。
Original languageEnglish
Patent numberI472742
Publication statusPublished - 1800

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title = "OPTICAL DETECTION APPARATUS",
abstract = "一種光學檢測裝置係用以檢測一組織,並包含一發光單元、一分光單元以及一光感測陣列。發光單元發射光線進入該組織。分光單元係接收由組織射出之光線,並將其分為複數波長之光線。光感測陣列係感測由分光單元射出之光線並產生一陣列光譜。藉由分光單元,本發明不需使用多顆發光二極體即可達到多波長光線檢測之目的,且分光單元結合光感測陣列可達到直覺式的檢測效果,例如直觀地查知異常組織。",
author = "Pau-Choo Chung and Dar-Bin Shieh",
year = "1800",
language = "English",
type = "Patent",
note = "I472742",

}

TY - PAT

T1 - OPTICAL DETECTION APPARATUS

AU - Chung, Pau-Choo

AU - Shieh, Dar-Bin

PY - 1800

Y1 - 1800

N2 - 一種光學檢測裝置係用以檢測一組織,並包含一發光單元、一分光單元以及一光感測陣列。發光單元發射光線進入該組織。分光單元係接收由組織射出之光線,並將其分為複數波長之光線。光感測陣列係感測由分光單元射出之光線並產生一陣列光譜。藉由分光單元,本發明不需使用多顆發光二極體即可達到多波長光線檢測之目的,且分光單元結合光感測陣列可達到直覺式的檢測效果,例如直觀地查知異常組織。

AB - 一種光學檢測裝置係用以檢測一組織,並包含一發光單元、一分光單元以及一光感測陣列。發光單元發射光線進入該組織。分光單元係接收由組織射出之光線,並將其分為複數波長之光線。光感測陣列係感測由分光單元射出之光線並產生一陣列光譜。藉由分光單元,本發明不需使用多顆發光二極體即可達到多波長光線檢測之目的,且分光單元結合光感測陣列可達到直覺式的檢測效果,例如直觀地查知異常組織。

M3 - Patent

M1 - I472742

ER -