OPTICAL DETECTION APPARATUS

Pau-Choo Chung (Inventor), Dar-Bin Shieh (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

一種光學檢測裝置用以檢測一組織,包括一罩體、一發光單元、一光感測單元以及一導電單元。發光單元位於罩體內,發射至少一波長之光線進入該組織。光感測單元感測由該組織射出之光線而產生一感測訊號。導電單元之至少一部分係設置於罩體之一外表面或設置於罩體之內,並傳送一驅動訊號至發光單元。由於發光單元設置於罩體內,整個光學檢測裝置可小型化而提升檢測便利性及產品競爭力,並藉由導電單元將驅動訊號傳送至位於罩體內之發光單元,而驅動其發光,實為一創新設計。
Original languageEnglish
Patent numberI472739
Publication statusPublished - 1800

Cite this

@misc{1233da0469e445d8993bd5f0a23b3605,
title = "OPTICAL DETECTION APPARATUS",
abstract = "一種光學檢測裝置用以檢測一組織,包括一罩體、一發光單元、一光感測單元以及一導電單元。發光單元位於罩體內,發射至少一波長之光線進入該組織。光感測單元感測由該組織射出之光線而產生一感測訊號。導電單元之至少一部分係設置於罩體之一外表面或設置於罩體之內,並傳送一驅動訊號至發光單元。由於發光單元設置於罩體內,整個光學檢測裝置可小型化而提升檢測便利性及產品競爭力,並藉由導電單元將驅動訊號傳送至位於罩體內之發光單元,而驅動其發光,實為一創新設計。",
author = "Pau-Choo Chung and Dar-Bin Shieh",
year = "1800",
language = "English",
type = "Patent",
note = "I472739",

}

TY - PAT

T1 - OPTICAL DETECTION APPARATUS

AU - Chung, Pau-Choo

AU - Shieh, Dar-Bin

PY - 1800

Y1 - 1800

N2 - 一種光學檢測裝置用以檢測一組織,包括一罩體、一發光單元、一光感測單元以及一導電單元。發光單元位於罩體內,發射至少一波長之光線進入該組織。光感測單元感測由該組織射出之光線而產生一感測訊號。導電單元之至少一部分係設置於罩體之一外表面或設置於罩體之內,並傳送一驅動訊號至發光單元。由於發光單元設置於罩體內,整個光學檢測裝置可小型化而提升檢測便利性及產品競爭力,並藉由導電單元將驅動訊號傳送至位於罩體內之發光單元,而驅動其發光,實為一創新設計。

AB - 一種光學檢測裝置用以檢測一組織,包括一罩體、一發光單元、一光感測單元以及一導電單元。發光單元位於罩體內,發射至少一波長之光線進入該組織。光感測單元感測由該組織射出之光線而產生一感測訊號。導電單元之至少一部分係設置於罩體之一外表面或設置於罩體之內,並傳送一驅動訊號至發光單元。由於發光單元設置於罩體內,整個光學檢測裝置可小型化而提升檢測便利性及產品競爭力,並藉由導電單元將驅動訊號傳送至位於罩體內之發光單元,而驅動其發光,實為一創新設計。

M3 - Patent

M1 - I472739

ER -