OPTICAL INSPECTION APPARATUS

Pau-Choo Chung (Inventor), Dar-Bin Shieh (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

一種光學檢測裝置，用以偵測一組織，包含一第一本體、一第二本體及一連接部。第二本體具有一檢測部，檢測部具有至少一發光單元及至少一光感測單元，發光單元發出一光線進入組織，光感測單元接收經由組織射出之光線而產生一感測訊號。連接部與第一本體及第二本體連接，第一本體與第二本體具有一第一相對位置，且第二本體藉由連接部並利用延伸、滑動或旋轉與第一本體改變至一第二相對位置。
Original languageEnglish
Patent numberI434674
Publication statusPublished - 1800

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Chung, Pau-Choo (Inventor) ; Shieh, Dar-Bin (Inventor). / OPTICAL INSPECTION APPARATUS. Patent No.: I434674.
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author = "Pau-Choo Chung and Dar-Bin Shieh",
year = "1800",
language = "English",
type = "Patent",
note = "I434674",

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Chung, P-C & Shieh, D-B 1800, OPTICAL INSPECTION APPARATUS, Patent No. I434674.

OPTICAL INSPECTION APPARATUS. / Chung, Pau-Choo (Inventor); Shieh, Dar-Bin (Inventor).

Patent No.: I434674.

Research output: Patent

TY - PAT

T1 - OPTICAL INSPECTION APPARATUS

AU - Chung, Pau-Choo

AU - Shieh, Dar-Bin

PY - 1800

Y1 - 1800

N2 - 一種光學檢測裝置，用以偵測一組織，包含一第一本體、一第二本體及一連接部。第二本體具有一檢測部，檢測部具有至少一發光單元及至少一光感測單元，發光單元發出一光線進入組織，光感測單元接收經由組織射出之光線而產生一感測訊號。連接部與第一本體及第二本體連接，第一本體與第二本體具有一第一相對位置，且第二本體藉由連接部並利用延伸、滑動或旋轉與第一本體改變至一第二相對位置。

AB - 一種光學檢測裝置，用以偵測一組織，包含一第一本體、一第二本體及一連接部。第二本體具有一檢測部，檢測部具有至少一發光單元及至少一光感測單元，發光單元發出一光線進入組織，光感測單元接收經由組織射出之光線而產生一感測訊號。連接部與第一本體及第二本體連接，第一本體與第二本體具有一第一相對位置，且第二本體藉由連接部並利用延伸、滑動或旋轉與第一本體改變至一第二相對位置。

M3 - Patent

M1 - I434674

ER -

Chung P-C, Shieh D-B, inventors. OPTICAL INSPECTION APPARATUS. I434674. 1800.