OPTICAL INSPECTION APPARATUS

Pau-Choo Chung (Inventor), Dar-Bin Shieh (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

一種光學檢測裝置,用以偵測一組織,包含一第一本體、一第二本體及一連接部。第二本體具有一檢測部,檢測部具有至少一發光單元及至少一光感測單元,發光單元發出一光線進入組織,光感測單元接收經由組織射出之光線而產生一感測訊號。連接部與第一本體及第二本體連接,第一本體與第二本體具有一第一相對位置,且第二本體藉由連接部並利用延伸、滑動或旋轉與第一本體改變至一第二相對位置。
Original languageEnglish
Patent numberI434674
Publication statusPublished - 1800

Cite this

@misc{1b5ddb44a49c424dae16c919d157d481,
title = "OPTICAL INSPECTION APPARATUS",
abstract = "一種光學檢測裝置,用以偵測一組織,包含一第一本體、一第二本體及一連接部。第二本體具有一檢測部,檢測部具有至少一發光單元及至少一光感測單元,發光單元發出一光線進入組織,光感測單元接收經由組織射出之光線而產生一感測訊號。連接部與第一本體及第二本體連接,第一本體與第二本體具有一第一相對位置,且第二本體藉由連接部並利用延伸、滑動或旋轉與第一本體改變至一第二相對位置。",
author = "Pau-Choo Chung and Dar-Bin Shieh",
year = "1800",
language = "English",
type = "Patent",
note = "I434674",

}

TY - PAT

T1 - OPTICAL INSPECTION APPARATUS

AU - Chung, Pau-Choo

AU - Shieh, Dar-Bin

PY - 1800

Y1 - 1800

N2 - 一種光學檢測裝置,用以偵測一組織,包含一第一本體、一第二本體及一連接部。第二本體具有一檢測部,檢測部具有至少一發光單元及至少一光感測單元,發光單元發出一光線進入組織,光感測單元接收經由組織射出之光線而產生一感測訊號。連接部與第一本體及第二本體連接,第一本體與第二本體具有一第一相對位置,且第二本體藉由連接部並利用延伸、滑動或旋轉與第一本體改變至一第二相對位置。

AB - 一種光學檢測裝置,用以偵測一組織,包含一第一本體、一第二本體及一連接部。第二本體具有一檢測部,檢測部具有至少一發光單元及至少一光感測單元,發光單元發出一光線進入組織,光感測單元接收經由組織射出之光線而產生一感測訊號。連接部與第一本體及第二本體連接,第一本體與第二本體具有一第一相對位置,且第二本體藉由連接部並利用延伸、滑動或旋轉與第一本體改變至一第二相對位置。

M3 - Patent

M1 - I434674

ER -