OPTICAL INSPECTION APPARATUS AND INSPECTION METHOD THEREOF

Pau-Choo Chung (Inventor), Dar-Bin Shieh (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

一種光學檢測裝置,用以偵測一組織,包含一檢測模組、一處理模組、一顯示模組及一輸入模組。檢測模組具有一發光單元及至少一光感測單元,發光單元發出至少一光線進入組織,光感測單元接收經由組織射出之光線而產生至少一感測訊號。處理模組與檢測模組耦接,並依據感測訊號進行分析。顯示模組與處理模組耦接,並顯示一畫面,畫面具有與組織相對應之一圖形,圖形具有複數區域對應組織的不同部位。輸入模組與處理模組耦接,藉由輸入模組之一操作以選定區域之其中之一。
Original languageEnglish
Patent numberI437219
Publication statusPublished - 1800

Cite this

@misc{bd468c7bb5ed49868daeb17a2cd6f680,
title = "OPTICAL INSPECTION APPARATUS AND INSPECTION METHOD THEREOF",
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author = "Pau-Choo Chung and Dar-Bin Shieh",
year = "1800",
language = "English",
type = "Patent",
note = "I437219",

}

TY - PAT

T1 - OPTICAL INSPECTION APPARATUS AND INSPECTION METHOD THEREOF

AU - Chung, Pau-Choo

AU - Shieh, Dar-Bin

PY - 1800

Y1 - 1800

N2 - 一種光學檢測裝置,用以偵測一組織,包含一檢測模組、一處理模組、一顯示模組及一輸入模組。檢測模組具有一發光單元及至少一光感測單元,發光單元發出至少一光線進入組織,光感測單元接收經由組織射出之光線而產生至少一感測訊號。處理模組與檢測模組耦接,並依據感測訊號進行分析。顯示模組與處理模組耦接,並顯示一畫面,畫面具有與組織相對應之一圖形,圖形具有複數區域對應組織的不同部位。輸入模組與處理模組耦接,藉由輸入模組之一操作以選定區域之其中之一。

AB - 一種光學檢測裝置,用以偵測一組織,包含一檢測模組、一處理模組、一顯示模組及一輸入模組。檢測模組具有一發光單元及至少一光感測單元,發光單元發出至少一光線進入組織,光感測單元接收經由組織射出之光線而產生至少一感測訊號。處理模組與檢測模組耦接,並依據感測訊號進行分析。顯示模組與處理模組耦接,並顯示一畫面,畫面具有與組織相對應之一圖形,圖形具有複數區域對應組織的不同部位。輸入模組與處理模組耦接,藉由輸入模組之一操作以選定區域之其中之一。

M3 - Patent

M1 - I437219

ER -