OPTICS DETECTING APPARATUS

Pau-Choo Chung (Inventor), Dar-Bin Shieh (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

一種光學檢測裝置係用以檢測一組織,並包括一本體、一檢測部、一方位偵測單元以及一控制單元。檢測部設置於本體,並具有一發光單元及至少一光感測單元,發光單元發出至少一光線進入組織並由該組織射出光線,光感測單元係依據射出之光線進行感測而產生一光感測訊號。方位偵測單元係設置於本體,並依據本體之方位輸出一方位訊號。控制單元係與檢測部及方位偵測單元耦接,並依據方位訊號分析檢測部檢測組織之哪一部位。本發明之光學檢測裝置具有自動定位的功能。
Original languageEnglish
Patent numberI436048
Publication statusPublished - 2012 Sep 16

Cite this

@misc{0e1b1e84df2c49b88f907ec274b25979,
title = "OPTICS DETECTING APPARATUS",
abstract = "一種光學檢測裝置係用以檢測一組織,並包括一本體、一檢測部、一方位偵測單元以及一控制單元。檢測部設置於本體,並具有一發光單元及至少一光感測單元,發光單元發出至少一光線進入組織並由該組織射出光線,光感測單元係依據射出之光線進行感測而產生一光感測訊號。方位偵測單元係設置於本體,並依據本體之方位輸出一方位訊號。控制單元係與檢測部及方位偵測單元耦接,並依據方位訊號分析檢測部檢測組織之哪一部位。本發明之光學檢測裝置具有自動定位的功能。",
author = "Pau-Choo Chung and Dar-Bin Shieh",
year = "2012",
month = "9",
day = "16",
language = "English",
type = "Patent",
note = "I436048",

}

TY - PAT

T1 - OPTICS DETECTING APPARATUS

AU - Chung, Pau-Choo

AU - Shieh, Dar-Bin

PY - 2012/9/16

Y1 - 2012/9/16

N2 - 一種光學檢測裝置係用以檢測一組織,並包括一本體、一檢測部、一方位偵測單元以及一控制單元。檢測部設置於本體,並具有一發光單元及至少一光感測單元,發光單元發出至少一光線進入組織並由該組織射出光線,光感測單元係依據射出之光線進行感測而產生一光感測訊號。方位偵測單元係設置於本體,並依據本體之方位輸出一方位訊號。控制單元係與檢測部及方位偵測單元耦接,並依據方位訊號分析檢測部檢測組織之哪一部位。本發明之光學檢測裝置具有自動定位的功能。

AB - 一種光學檢測裝置係用以檢測一組織,並包括一本體、一檢測部、一方位偵測單元以及一控制單元。檢測部設置於本體,並具有一發光單元及至少一光感測單元,發光單元發出至少一光線進入組織並由該組織射出光線,光感測單元係依據射出之光線進行感測而產生一光感測訊號。方位偵測單元係設置於本體,並依據本體之方位輸出一方位訊號。控制單元係與檢測部及方位偵測單元耦接,並依據方位訊號分析檢測部檢測組織之哪一部位。本發明之光學檢測裝置具有自動定位的功能。

M3 - Patent

M1 - I436048

ER -

Chung P-C, Shieh D-B, inventors. OPTICS DETECTING APPARATUS. I436048. 2012 Sep 16.