OPTICS DETECTING APPARATUS

Pau-Choo Chung (Inventor), Dar-Bin Shieh (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

一種光學檢測裝置係用於檢測一組織，包括一第一本體以及一第二本體。第二本體與第一本體連結，並具有一檢測部，檢測部與第一本體具有一第一相對位置及一第二相對位置，其中，於第一相對位置時，檢測部係外露，於第二相對位置時，檢測部係由第一本體遮蓋。本發明之光學檢測裝置具有自我校正的功能。
Original languageEnglish
Patent numberI432714
Publication statusPublished - 1800

Cite this

Chung, Pau-Choo (Inventor) ; Shieh, Dar-Bin (Inventor). / OPTICS DETECTING APPARATUS. Patent No.: I432714.
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title = "OPTICS DETECTING APPARATUS",
abstract = "一種光學檢測裝置係用於檢測一組織，包括一第一本體以及一第二本體。第二本體與第一本體連結，並具有一檢測部，檢測部與第一本體具有一第一相對位置及一第二相對位置，其中，於第一相對位置時，檢測部係外露，於第二相對位置時，檢測部係由第一本體遮蓋。本發明之光學檢測裝置具有自我校正的功能。",
author = "Pau-Choo Chung and Dar-Bin Shieh",
year = "1800",
language = "English",
type = "Patent",
note = "I432714",

}

Chung, P-C & Shieh, D-B 1800, OPTICS DETECTING APPARATUS, Patent No. I432714.

OPTICS DETECTING APPARATUS. / Chung, Pau-Choo (Inventor); Shieh, Dar-Bin (Inventor).

Patent No.: I432714.

Research output: Patent

TY - PAT

T1 - OPTICS DETECTING APPARATUS

AU - Chung, Pau-Choo

AU - Shieh, Dar-Bin

PY - 1800

Y1 - 1800

N2 - 一種光學檢測裝置係用於檢測一組織，包括一第一本體以及一第二本體。第二本體與第一本體連結，並具有一檢測部，檢測部與第一本體具有一第一相對位置及一第二相對位置，其中，於第一相對位置時，檢測部係外露，於第二相對位置時，檢測部係由第一本體遮蓋。本發明之光學檢測裝置具有自我校正的功能。

AB - 一種光學檢測裝置係用於檢測一組織，包括一第一本體以及一第二本體。第二本體與第一本體連結，並具有一檢測部，檢測部與第一本體具有一第一相對位置及一第二相對位置，其中，於第一相對位置時，檢測部係外露，於第二相對位置時，檢測部係由第一本體遮蓋。本發明之光學檢測裝置具有自我校正的功能。

M3 - Patent

M1 - I432714

ER -

Chung P-C, Shieh D-B, inventors. OPTICS DETECTING APPARATUS. I432714. 1800.