OPTICS DETECTING APPARATUS AND DETECTING METHOD THEREOF

Pau-Choo Chung (Inventor), Dar-Bin Shieh (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

一種光學檢測裝置係用以檢測一組織,並包括一檢測部、一提示單元以及一控制單元。檢測部設置於光學檢測裝置,並具有一發光單元及至少一光感測單元,發光單元發出至少一光線進入組織,光感測單元係依據由組織射出之光線進行感測而產生一光感測訊號。提示單元設置於光學檢測裝置。控制單元係與檢測部及提示單元耦接,並依據光感測訊號之分析結果控制提示單元發出一位置提示訊號。本發明亦揭露光學檢測裝置之檢測方法。本發明之光學檢測裝置及其檢測方法讓使用者可即時地由檢測裝置獲得提示或說明。
Original languageEnglish
Patent numberI443306
Publication statusPublished - 1800

Cite this

@misc{95e782e803fc454faa0bdb514e4b1fe4,
title = "OPTICS DETECTING APPARATUS AND DETECTING METHOD THEREOF",
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author = "Pau-Choo Chung and Dar-Bin Shieh",
year = "1800",
language = "English",
type = "Patent",
note = "I443306",

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TY - PAT

T1 - OPTICS DETECTING APPARATUS AND DETECTING METHOD THEREOF

AU - Chung, Pau-Choo

AU - Shieh, Dar-Bin

PY - 1800

Y1 - 1800

N2 - 一種光學檢測裝置係用以檢測一組織,並包括一檢測部、一提示單元以及一控制單元。檢測部設置於光學檢測裝置,並具有一發光單元及至少一光感測單元,發光單元發出至少一光線進入組織,光感測單元係依據由組織射出之光線進行感測而產生一光感測訊號。提示單元設置於光學檢測裝置。控制單元係與檢測部及提示單元耦接,並依據光感測訊號之分析結果控制提示單元發出一位置提示訊號。本發明亦揭露光學檢測裝置之檢測方法。本發明之光學檢測裝置及其檢測方法讓使用者可即時地由檢測裝置獲得提示或說明。

AB - 一種光學檢測裝置係用以檢測一組織,並包括一檢測部、一提示單元以及一控制單元。檢測部設置於光學檢測裝置,並具有一發光單元及至少一光感測單元,發光單元發出至少一光線進入組織,光感測單元係依據由組織射出之光線進行感測而產生一光感測訊號。提示單元設置於光學檢測裝置。控制單元係與檢測部及提示單元耦接,並依據光感測訊號之分析結果控制提示單元發出一位置提示訊號。本發明亦揭露光學檢測裝置之檢測方法。本發明之光學檢測裝置及其檢測方法讓使用者可即時地由檢測裝置獲得提示或說明。

M3 - Patent

M1 - I443306

ER -