Abstract

一種探針包括一基座、一支持元件以及一探針頭。支持元件係設置於基座並突設於基座。探針頭設置於支持元件遠離基座之一端,探針頭具有至少一凹槽。本發明之探針可因應特殊檢測工作的需求。
Original languageEnglish
Patent numberI407107
Publication statusPublished - 1800

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Liu, H-C. (1800). PROBE. (Patent No. I407107).
Liu, Hao-Chih (Inventor). / PROBE. Patent No.: I407107.
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author = "Hao-Chih Liu",
year = "1800",
language = "English",
type = "Patent",
note = "I407107",

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Liu, H-C 1800, PROBE, Patent No. I407107.

PROBE. / Liu, Hao-Chih (Inventor).

Patent No.: I407107.

Research output: Patent

TY - PAT

T1 - PROBE

AU - Liu, Hao-Chih

PY - 1800

Y1 - 1800

N2 - 一種探針包括一基座、一支持元件以及一探針頭。支持元件係設置於基座並突設於基座。探針頭設置於支持元件遠離基座之一端,探針頭具有至少一凹槽。本發明之探針可因應特殊檢測工作的需求。

AB - 一種探針包括一基座、一支持元件以及一探針頭。支持元件係設置於基座並突設於基座。探針頭設置於支持元件遠離基座之一端,探針頭具有至少一凹槽。本發明之探針可因應特殊檢測工作的需求。

M3 - Patent

M1 - I407107

ER -

Liu H-C, inventor. PROBE. I407107. 1800.