Abstract

一種探針包括一基座、一支持元件以及一探針頭。支持元件係設置於基座並突設於基座。探針頭係為一錐體,並設置於支持元件遠離基座之一端,探針頭具有一第一表面及鄰接的一第二表面,第一表面具有至少一第一轉折,第二表面具有至少一第二轉折
Original languageEnglish
Patent numberI410635
Publication statusPublished - 1800

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Liu, H-C. (1800). PROBE. (Patent No. I410635).
Liu, Hao-Chih (Inventor). / PROBE. Patent No.: I410635.
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author = "Hao-Chih Liu",
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Liu, H-C 1800, PROBE, Patent No. I410635.

PROBE. / Liu, Hao-Chih (Inventor).

Patent No.: I410635.

Research output: Patent

TY - PAT

T1 - PROBE

AU - Liu, Hao-Chih

PY - 1800

Y1 - 1800

N2 - 一種探針包括一基座、一支持元件以及一探針頭。支持元件係設置於基座並突設於基座。探針頭係為一錐體,並設置於支持元件遠離基座之一端,探針頭具有一第一表面及鄰接的一第二表面,第一表面具有至少一第一轉折,第二表面具有至少一第二轉折

AB - 一種探針包括一基座、一支持元件以及一探針頭。支持元件係設置於基座並突設於基座。探針頭係為一錐體,並設置於支持元件遠離基座之一端,探針頭具有一第一表面及鄰接的一第二表面,第一表面具有至少一第一轉折,第二表面具有至少一第二轉折

M3 - Patent

M1 - I410635

ER -

Liu H-C, inventor. PROBE. I410635. 1800.