PRODUCT QUALITY FAULT DETECTION METHOD AND REAL METROLGY DATA EVALUATION

Fan-Tien Cheng (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

一種偵測產品品質超規與評估產品實際量測?的方法。此偵測產品品質超規的方法係應用分類與迴歸樹(Classification and Regression Tree;CART)方法來建構代表製程參數與產品超規間之關係的FD(Fault Detection;品質超規偵測)模型,以於生產線上即時偵測出製程資料參數?皆在規格內(正常)而其產品品質卻超出規格的情況。此評估產品實際量測?的方法根據自適應性共振理論2(Adaptive Resonance Theory 2;ART2)
Translated title of the contribution偵測產品品質超規與評估產品實際量測值的方法
Original languageEnglish
Patent numberI400619
Publication statusPublished - 1800

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