THERMAL PROBE

Hao-Chih Liu (Inventor)

Research output: Patent

Abstract

一種熱探針包括一支持元件、一導電圖案以及一探針頭。導電圖案設置於支持元件,並具有複數彎折部。探針頭具有一底座及一針尖,底座具有一第一表面及與第一表面相對的一第二表面,針尖設置於第一表面,第二表面與導電圖案連接,該等彎折部接觸第一表面。本發明之熱探針的探針頭為可更換,且使用者可以根據其需求選用最佳的探針頭、導電圖案及支持元件的組合。
Original languageEnglish
Patent numberI439695
Publication statusPublished - 1800

Cite this

Liu, H-C. (1800). THERMAL PROBE. (Patent No. I439695).
Liu, Hao-Chih (Inventor). / THERMAL PROBE. Patent No.: I439695.
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author = "Hao-Chih Liu",
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note = "I439695",

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Liu, H-C 1800, THERMAL PROBE, Patent No. I439695.

THERMAL PROBE. / Liu, Hao-Chih (Inventor).

Patent No.: I439695.

Research output: Patent

TY - PAT

T1 - THERMAL PROBE

AU - Liu, Hao-Chih

PY - 1800

Y1 - 1800

N2 - 一種熱探針包括一支持元件、一導電圖案以及一探針頭。導電圖案設置於支持元件,並具有複數彎折部。探針頭具有一底座及一針尖,底座具有一第一表面及與第一表面相對的一第二表面,針尖設置於第一表面,第二表面與導電圖案連接,該等彎折部接觸第一表面。本發明之熱探針的探針頭為可更換,且使用者可以根據其需求選用最佳的探針頭、導電圖案及支持元件的組合。

AB - 一種熱探針包括一支持元件、一導電圖案以及一探針頭。導電圖案設置於支持元件,並具有複數彎折部。探針頭具有一底座及一針尖,底座具有一第一表面及與第一表面相對的一第二表面,針尖設置於第一表面,第二表面與導電圖案連接,該等彎折部接觸第一表面。本發明之熱探針的探針頭為可更換,且使用者可以根據其需求選用最佳的探針頭、導電圖案及支持元件的組合。

M3 - Patent

M1 - I439695

ER -

Liu H-C, inventor. THERMAL PROBE. I439695. 1800.