Abstract
本文主要探討在使用二次元素進行邊界元素分析時,所遭遇的弱奇異積分問題。藉由推導邊界元素分析之基本解方程式,得到弱奇異積分產生的來源,並進行方程式的修正,使問題得到解決。再將此方法擴充至磁電彈材料,使磁電彈材料在進行分析時,可以得到更為精確的結果。 本文將修正師門程式AEPH中關於邊界元素分析的二次元素部分,使得二次邊界元素分析可得到精確的結果,並比較處理先後之結果差別。Date of Award | 2018 Jul 23 |
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Original language | Chinese |
Supervisor | Chyanbin Hwu (Supervisor) |