以反應曲面法優化TFT-LCD可靠度試驗之外引腳腐蝕試驗

  • 謝 國彬

Student thesis: Master's Thesis

Abstract

受到西元2000年代後期之金融海嘯衝擊,加上供過於求的市場生態,使得台灣薄膜電晶體液晶顯示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display TFT-LCD )產業變得更加嚴峻。在日韓優勢技術的威脅,與中國快速的產能成長挑戰下,如何有效運用有限資源與控制成本,發展性能、品質兼備的產品,成了國內企業存活的關鍵。隨著TFT-LCD廣泛應用在日常生活中,使得TFT-LCD操作環境變得更加多樣化,且消費市場對產品更新腳步的要求,甚至已達到以季為單位的汰換速度,造成產品開發時程越趨縮短的現象。而目前此產業開發階段之可靠度加速試驗之應力水準組合過於龐大,由於鮮少探討何種組合為最適條件,業界常以同時執行多種應力水準試驗,來確認產品失效的發生,此現象將造成重複試驗,以致開發時間延長和開發成本的上升,因此本研究將針對產業現有計量值呈現的各種不同加速試驗應力水準,利用反應曲面法(Response Surface Methodology RSM)從中求得最短時間誘發失效之加速試驗應力水準。 研究過程以TFT-LCD之外引腳腐蝕試驗來發展,建立以最短失效發生時間為目標之最佳可靠度試驗應力水準設定方法。研究中採用台灣某一面板廠之32吋面板做為樣本,透過23與Box-Behnken設計(Box-Behnken Design BBD)因子實驗所得之結果,最終試驗應力之最適化設定為:溫度85℃;相對溼度82%;晶片驅動電壓15V,此一設定下反應值並非是最小值而是一鞍點,但已是現實環境限制下,能夠實際執行之最佳解。在實地執行研究所得之結果,經與其他兩種常被使用之實驗條件做穩健性驗證,其驗證結果確實為最快加速失效發生之試驗應力組合,能夠有效縮短試驗時間,可藉以減少試驗應力水準組合,降低挖掘失效之可靠度試驗成本,並改善可靠度試驗執行計畫之效率。 關鍵字:反應曲面法、可靠度試驗、薄膜電晶體液晶顯示器、外引腳腐蝕
Date of Award2015 Sep 3
Original languageChinese
SupervisorTai-Yue Wang (Supervisor)

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以反應曲面法優化TFT-LCD可靠度試驗之外引腳腐蝕試驗
國彬, 謝. (Author). 2015 Sep 3

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