以ECCI技術分析變形與退火過程中Crofer 22 H不鏽鋼中差排組織之演化

  • 吳 庭宜

Student thesis: Master's Thesis

Abstract

電子通道對比影像(ECCI)技術為掃描式電子顯微鏡(SEM)中的一項技術,可直接觀測到在晶體材料上,奈米層級的表面缺陷,例如:差排、疊差及奈米雙晶等。此篇論文使用Crofer 22 H不鏽鋼為實驗材料,藉由ECCI分別觀測不同變形量以及退火處理時間對差排組織之影響。並使用穿透式電子顯微鏡(TEM)中之不可見判定公式(Invisibility criteria),分析差排之滑移系統以及判斷其種類。最後藉由比較不同退火階段之ECCI觀測了到由差排組織到析出物組織之間的演化過程。
Date of Award2017 Aug 17
Original languageChinese
SupervisorJui-Chao Kuo (Supervisor)

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以ECCI技術分析變形與退火過程中Crofer 22 H不鏽鋼中差排組織之演化
庭宜, 吳. (Author). 2017 Aug 17

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