現階段GaN-基藍光發光二極體(light emitting diode LED),因受惠於有機金屬化學氣相磊晶(MOCVD)技術提升及垂直LED(vertical structure LED VLED)製程技術開發,其磊晶品質與光電轉換效率(wall plug efficiency WPE)皆獲顯著改善。於GaN-基VLED元件結構中,陽極為與p-GaN呈歐姆接觸之導電基板,n-GaN為出光面,其上之陰極電極,基於降低接觸電阻與減少遮蔽出光的考量,必須進行電極圖案最佳化設計。 VLED結構與一般結構相比雖可有效降低串聯電阻,增加元件WPE,然操作於大電流(>1 A)下,仍易發生電流擁擠效應,導致WPE下降。本論文提出一種利用非等向性乾蝕刻製程製備具階梯狀n-GaN表面再搭配適當電極設計,藉由垂直與與側向串聯電阻之調變,使分佈於VLED電流密度趨於一致,有效改善電流擴散、串聯電阻與WPE並利用模擬軟體Crosslight進行驗證。 實驗結果顯示,在蝕刻深度為200 nm時,具有電極設計之氮化鎵發光二極體元件於注入電流350mA時,與一般氮化鎵發光二極體相較,其光輸出效率增加19 2%。此光電特性結果證實本實驗利用電極設計與階梯蝕刻結構,確實能改善電流分佈並提升光輸出效率。
Date of Award | 2014 Jan 22 |
---|
Original language | Chinese |
---|
Supervisor | Shui-Jinn Wang (Supervisor) |
---|
利用電極設計與非等向性蝕刻提升氮化鎵發光二極體光輸出之研究
揚, 陳. (Author). 2014 Jan 22
Student thesis: Master's Thesis