在製程微量變動下模糊指數加權移動平均管制圖之建構與研究

Abstract

在現今工業界中，統計製程管制(statistical process control SPC)是常用來及時監控及改善產品及製程品質的一種統計技術，其中又以管制圖(control chart)為統計製程管制技術中最廣泛被使用於監控製程品質之工具。然而在實際的應用中，往往因為操作人員、量測工具、製程環境等因素存在著不確定性，導致量測數據為不確定的模糊數而無法使用過去傳統的方式來建構管制圖。 近年來已有多位學者針對量測數據為模糊數提出了一系列的模糊管制圖，彼等運用解模糊化的方法建立明確管制界線並以其作為製程是否是管制狀態之依據。但此種方法並未考慮到數據的模糊性而失去部分訊息，因此考慮量測數據的模糊程度用以建立模糊管制界限確實有其必要性。 本研究利用Buckley(1985)所提出的模糊數相近關係測度來決定模糊統計量與模糊管制界線的大小關係並以其作為製程是否呈管制狀態之評判依據，接著我們根據模糊隸屬度的概念提出新的模糊ARL計算公式並透過其找尋在各種不同模糊程度下的修正管制界線的參數。實務工作者可透過修正管制界線參數在管制狀態內的ARL值( )決定其所能接受量測數據的模糊程度，再以此管制參數建構模糊EWMA管制圖。 最後本研究以Montgomery (2009 pp 283)所提供的矽晶圓氧化層厚度量測資料說明模糊EWMA管制圖的使用步驟，可作為實務工作者的參考。

Date of Award	2017 Jun 30
Original language	Chinese
Supervisor	Jeh-Nan Pan (Supervisor)