應用MIL-STD-105E與高良率製程管制圖之產品抽樣檢驗分析比較

Translated title of the thesis: The Comparison Study of Sampling Inspection Effectiveness between MIL-STD-105E and High Yield Control Chart
  • 何 明峻

Student thesis: Master's Thesis

Abstract

台灣代工的品質一直以來受到國際的肯定,舉凡半導體的代工龍頭台積電或幫Apple、HP等國際大廠代工的台灣相關廠商,都是因為能生產高品質的產品才會屢屢獲得國際大廠的青睞而委託代工其產品,於是如何對高品質的產品進行抽樣檢驗則是近年來被重視與討論的。 從過去文獻可知,不論產品抽檢良率高或低很多企業都是使用傳統的美軍標準(計數型MIL-STD-105E或計量型MIL-STD-414)來進行抽檢,本研究對於採用MIL- STD-105E來進行產品的出貨抽樣檢驗之商家進行研究,因為產品抽檢的不良率相當低,而過去針對低不良率的產品製程大都使用管制圖來監控其製程,但較少使用管制圖來監控產品的進出貨抽檢過程。本研究蒐集了?多過去學者針對低不良率的產品製程所設計的管制圖,其中主要以累積數量管制圖(Cumulative Quantity Control chart CQC control chart)為本研究參考之管制圖。 本研究使用MATLAB軟體來模擬CQC管制圖的偵測能力,同時使用CQC管制圖進行實際的產品抽樣檢驗,最後將模擬與實際抽檢的結果再與代工廠抽檢的結果作交叉的分析與比較,從研究結果顯示對於低不良率的抽檢產品使用CQC管制圖方法來檢驗確實可以較快速的偵測到異常同時亦可減少相關的檢驗成本。
Date of Award2015 Jul 9
Original languageChinese
SupervisorTai-Yue Wang (Supervisor)

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應用MIL-STD-105E與高良率製程管制圖之產品抽樣檢驗分析比較
明峻, 何. (Author). 2015 Jul 9

Student thesis: Master's Thesis