結合指數加權移動平均與累和管制圖在監控多階段系統製程品質上之應用研究

Abstract

統計製程管制(Statistical Process Control SPC)是現代生產製造業中一項不可或缺的重要方法，若能善用此工具於監控產品及製程特性，則可大幅提升生產品良率。隨著時代的進步，現今產品的製造過程愈趨精密、複雜，多數的產品往往需要經過多個階段的製造流程，才能順利完成。例如：半導體製造業、電路印刷版、化學工業、航太工業、電信產業等?多工業領域之製程，皆屬於多階段製造系統之範疇。而上述高科技工業，各個階段的製程資料常具有自我相關的性質。Pan et al (2016)已建構出多階段系統之殘差及管制圖，其中之指數加權移動平均( Exponentially Weighted Moving Average EWMA )管制圖及累和( Cumulative Sum CUSUM )管制圖之偵測能力均優於一般傳統的EWMA及CUSUM管制圖，但仍有進一步改善的空間。 在多階段系統的製程中，本研究擬採用Pan et al (2016)多階段系統之模型，先取得各階段模型的殘差值，再將所取得之殘差值代入混和指數加權移動平均與累和(Mixed EWMA-CUSUM)的管制?中並考慮快速初始反應值(Fast initial Response FIR)與Headstart，以期建立多階段殘差RMECFIRHS (Revised Mixed EWMA-CUSUM with modified FIR and Headstart )管制?。接著，我們利用整體平均串長度(Overall Average Run Length OARL)作為在各種參數組合下多階段系統新的殘差混和指數平滑與累和管制?與Pan et al (2016)的多階段系統殘差管制?偵測能力的比較基準。最後，我們以模擬結果發現新的多階段殘差RMECFIRHS管製圖的偵測能力均優於Pan et al (2016)的多階段系統殘差管製圖。

Date of Award	2018 Jul 5
Original language	Chinese
Supervisor	Jeh-Nan Pan (Supervisor)