考量多種衰退模型之穩健性預燒程序設計

Translated title of the thesis: A robust burn-in policy under multiple degradation models
  • 陳 柏佑

Student thesis: Master's Thesis

Abstract

預燒試驗是一道應用於消除產品早夭失效期與剔除不良品之程序,隨著科技進步,產品的可靠度不斷地提升,利用傳統的預燒策略已無法有效地在短時間內進行產品評估,為了縮短預燒時間、提升預燒效率,已有研究指出可以藉由觀察隨著時間發生衰退的產品品質特性作為發展預燒策略考量,一般發展預燒策略研究中,首先會觀察產品品質特性,接著針對所觀察的品質特性進行適合的衰退模型配置,然而使用不同的衰退模型配置於產品品質特性將會發展出不同的預燒策略。 本研究將考量產品無法確定該使用Wiener過程或Gamma過程的衰退模型進行配置的情況下,發展一穩健性預燒程序,並藉此穩健性預燒程序設計減少衰退模型配置錯誤之損失,然而除了以單一觀測時間點所得到的品質特性作為產品分類依據之外,隨後將更進一步考量以多個觀測時間所得到的品質特性作為分類依據,利用期望錯分代價(ECM)方法發展衰退模型符合Wiener過程之分類規則、衰退模型符合Gamma過程之分類規則,接著考量衰退模型可能存在配置錯誤的情況下,發展一穩健於Wiener過程以及Gamma過程之分類規則,並探討其穩健預燒終止時間。 研究最後以模擬的方式分別針對以下兩部分進行比較與分析,一、考量單一觀測時間下穩健性設計對於衰退模型配置錯誤的影響程度,二、考量多個觀測時間下穩健性設計對於衰退模型配置錯誤的影響程度,研究指出無論考量單一觀測時間下的穩健分類切點或考量多個觀測時間下的穩健分類規則皆比使用錯誤的衰退模型進行配置時有更佳的分類結果,然而考量多個觀測時間之穩健性設計又優於考量單一觀測時間下穩健性設計,並由敏感度分析發現產品參數估計對於穩健分類規則存在顯著的影響。
Date of Award2017 Jul 22
Original languageChinese
SupervisorCheng-Hung Hu (Supervisor)

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考量多種衰退模型之穩健性預燒程序設計
柏佑, 陳. (Author). 2017 Jul 22

Student thesis: Master's Thesis