動態光散射粒徑分析儀及Z電位分析儀(Dynamic Light Scattering/Zeta Potential Analyzer)

  • Yu-chun Wu (Manager),
  • 延齡 王 (Operator) &
  • 冠廷 呂 (Operator)

設備/設施: Instrument Development Center

設備詳細資料

Description

動態光散射粒徑分析儀(Nanoplus-3)採用光子相關光譜法(P.C.S)、電泳光散射(E.L.S)以及最新的FST技術可精確分析奈米粒子粒徑和界面電位(Zeta Potential),符合ISO13321及22412標準;專利技術可測定固體或薄膜樣品表面界面電位,為應用領域最廣的奈米粒徑及界面電位分析儀。