高解析熱場發射掃描式電子顯微鏡 I

    設備/設施: Center for Micro/Nano Science and Technology

    • 地點

      No.1, University Road, Tainan City 701, Taiwan (R.O.C.) 701

      Taiwan

    設備詳細資料

    Description

    本電腦化操作之高解析場發射掃描式電子顯微鏡,其特點為以熱場發射電子槍產生能量均一之電子束。能提供金屬材料及電子材料等,於高倍率下之二次電子影像(SEI)及背反電子影像(BEI)之表面型態觀察。本機台同時配置有能量分散光譜儀(EDS)能做元素成分之定性及半定量分析之工作。
    設備相關照片

    詳細資料

    名字高解析熱場發射掃描式電子顯微鏡 I

    指紋

    探索使用此設備的研究領域。這些標籤是根據相關成果而產生。共同形成了獨特的指紋。