設備詳細資料
Description
本電腦化操作之高解析場發射掃描式電子顯微鏡，其特點為以熱場發射電子槍產生能量均一之電子束。能提供金屬材料及電子材料等，於高倍率下之二次電子影像(SEI)及背反電子影像(BEI)之表面型態觀察。本機台同時配置有能量分散光譜儀(EDS)能做元素成分之定性及半定量分析之工作。
詳細資料
| 名字 | 高解析熱場發射掃描式電子顯微鏡 I |
|---|
×
![]()
指紋
探索使用此設備的研究領域。這些標籤是根據相關成果而產生。共同形成了獨特的指紋。