設備詳細資料
Description
本電腦化操作之高解析場發射掃描式電子顯微鏡 ，其特點為以熱場發射電子槍產生能量均 ㄧ之電子束。能提供金屬材料及電子材料等，於高倍率下之二次電子影像 (SEI)與背反電子影像(BEI)之表面型態觀察。
詳細資料
| 名字 | 高解析熱場發射掃描式電子顯微鏡 II |
|---|---|
| 擷取日期 | 04-12-08 |
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指紋
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