高解析熱場發射掃描式電子顯微鏡 II

    設備/設施: Center for Micro/Nano Science and Technology

    • 地點

      No.1, University Road, Tainan City 701, Taiwan (R.O.C.) 701

      Taiwan

    Description

    本電腦化操作之高解析場發射掃描式電子顯微鏡 ,其特點為以熱場發射電子槍產生能量均 ㄧ之電子束。能提供金屬材料及電子材料等,於高倍率下之二次電子影像 (SEI)與背反電子影像(BEI)之表面型態觀察。

    詳細資料

    名字高解析熱場發射掃描式電子顯微鏡 II
    擷取日期04-12-08

    指紋

    scanning electron microscopy
    spectroscopy
    electron
    energy
    software
    qualitative analysis
    quantitative analysis
    texture
    probe
    analysis