場發射低溫穿透式電子顯微鏡

設備/設施: Facility

  • 地點

    No. 1, University Road, Tainan, TAIWAN 701

    Taiwan

設備詳細資料

Description

儀器安裝年份:2013年
儀器經費來源:國科會及國立成功大學
廠牌及型號:日本JEOL, JEM-2100F
放置地點:醫學院地下一樓82-B139室, i-MANI實驗室
加速電壓: 200KeV
放大倍率:x2,000-1,500,000
解像力:Point image:0.27 nm;Lattice image:0.14 nm
雙傾斜基座:X軸±60°
電子槍 : 場發射

主要附件:
DE-12 Camera System: 12 Mpixel DDD 感應器。4K x 3K 陣列,6 micron pixels。DE-12能快速、動態的記錄電子繞射圖,加速自動圖像採集,改善CCD造成之低信噪比,並直接擷取高能量電子的數位影像,提高detective quantum efficiency (DQE) (Milazzo, et al., 2010; McMullan et al., 2009),提高信噪比(Bammes, et al., 2012),更提高解析度。

Gatan, Inc. Cryoplunge3 (CP3): 樣品低溫速凍機。

Gatan, Inc. 914 High Tilt Liquid Nitrogen Cryo Transfer Tomography Holder: 可進行低溫斷層掃描(electron cryo-tomography),可進行置細胞等級之分析,如病毒與宿主細胞之交互作用以及結構不對稱之病毒的立體構造解析。

Hydrophilic Treatment Device (JEOL, HDT-400): 碳膜表面親水性處理。

指紋 探索使用此設備的研究領域。這些標籤是根據相關成果而產生。共同形成了獨特的指紋。