多功能掃描式探針顯微鏡

    設備/設施: Center for Micro/Nano Science and Technology

    • 地點

      No.1, University Road, Tainan City 701, Taiwan (R.O.C.) 701

      Taiwan

    Description

    多功能掃描探針顯微鏡(Scanning probe microscopes , SPMs)是用於測量樣品表面 / 介面性質的一類高解析度的探針型顯微鏡,根據其成像原理和操作模式的差異,主要分為原子力顯微鏡(atomic force microscopes ,AFMs)、導電性原子力顯微鏡(Conductive AFM, C-AFM)、靜電力顯微鏡(Electrostatic Force Microscopy, EFM)、 磁力顯微鏡(Magnetic Force Microscopy, MFM)、壓電力顯微鏡 (Piezoresponse Force Microscopy, PFM)、表面電位顯微鏡( Surface Potential Microscopy, KPM)等。

    詳細資料

    名字多功能掃描式探針顯微鏡
    擷取日期15-03-03

    指紋

    microscopes
    microscopy
    scanning
    probes
    liquid surfaces
    air
    capacitance
    conductivity
    liquids
    interactions