粉末X光繞射儀

設施/設備: Instrument Development Center

  • 地點

    No. 1, University Road, Tainan, TAIWAN 701

    Taiwan

設備詳細資料

Description

1. 廠牌Bruker

2. X-光產生器
(一)X光管(X-RAY Tube):
(1)至少為2.2KW 銅靶,長細型,可與其它廠家光管互換
(2)管身為耐熱陶瓷,需同時具備一個線聚焦及一個點聚焦
(二)高壓電源供應器(High Voltage Generation system):
(1)最大輸出功率:300W
(2)最大輸出電壓:30 kV
(3)最大輸出電流:10 mA
(4)不需使用外部循環水系統冷卻

測角儀系統(Goniometer)
(一)θ-θ垂直作動型式,即入射角度及繞射角度可分別獨立動作
(二)樣品需為水平放置避免掉落
(三)2θ作動範圍: -3° ~ 160°或更大
(四)旋轉樣品載台速度:1°/min ~ 80°/min 或更大
(五)全範圍掃描2θ 之精準度:±0.02° 或更好
(六)以Corundum為樣品其 2θ之解析度(半高寬):0.05° 或更小

3. 光學元件
(一)入射光源:固定抽換式狹縫裝置
(二)特殊設計可調位置阻光刀, 提高高角及低角度範圍之信號雜訊比

4. 化合物半導體偵測器
(一) 不須配有繞射側單光器即可解決含鐵鈷鎳等元素所造成之螢光效應的高,背景值,訊號偵測速度需比點偵測器快 ≧ 100 倍以上。
(二)最大偵搜角度:5.5°。
(三)偵測區域有效面積:14.4 x 16mm2。
(四)2θ 解析度 ≦ 0.037°。
(五)最高偵測強度 ≧ 100M cps。
(六)偵測器之動態範圍 > 7x106。
(七)偵測器之背景值 < 0.1 cps。
(八)偵測器之strips 或 channel 數目:192 個。
(九)可應用波長範圍:鉻(Cr) ~ 銅(Cu) 。
(十)偵測器之靈敏度 > 98%。

詳細資料

名字粉末X光繞射儀
擷取日期12-03-29

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